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多晶硅薄膜及其电池制备的研究

第一章 绪论第1-23页
   ·太阳电池的发展历史及现状第8-10页
   ·太阳电池的原理第10-16页
     ·理想PN结的伏安特性第10-11页
     ·光在半导体中的吸收过程第11-12页
     ·硅太阳电池的基本结构与工作原理第12-13页
     ·太阳电池的性能参数第13-16页
   ·多晶硅薄膜电池的研究进展第16-21页
     ·低温路线第17-18页
     ·高温路线第18-21页
   ·开题思想及本文的主要内容第21-23页
第二章 快速热化学气相沉积制备多晶硅薄膜第23-38页
   ·陶瓷衬底的选择第23-26页
   ·RTCVD方法简介第26-29页
     ·RTCVD的基本原理第26-28页
     ·RTVCVD的试验设备第28-29页
   ·陶瓷衬底上多晶硅薄膜的制备第29-35页
     ·衬底处理第29-30页
     ·RTCVD沉积工艺研究第30-35页
   ·外延多晶硅活性层第35-37页
   ·小结第37-38页
第三章 多晶硅薄膜区熔再结晶工艺研究第38-46页
   ·区熔再结晶设备第38-39页
   ·区熔再结晶原理第39-41页
   ·多晶硅薄膜区熔再结晶前后的性能分析第41-45页
     ·区熔后的表面形貌第41-43页
     ·X射线衍射谱(XRD)分析第43-44页
     ·电学性能分析第44-45页
   ·小结第45-46页
第四章 多晶硅薄膜太阳电池制备第46-56页
   ·阻挡层的制备第47-49页
     ·阻挡层的选择第47-48页
     ·阻挡层的制备第48-49页
   ·扩散制结第49-50页
   ·电极制作第50-54页
     ·电极结构的选择第50-51页
     ·电极的制备第51-54页
   ·电池性能测试及结果分析第54-56页
第五章 多晶硅薄膜太阳电池的理论模拟第56-61页
   ·多晶硅薄膜太阳电池的理论效率第56-57页
   ·基区厚度和少子扩散长度的影响第57-59页
   ·漏电流的影响第59-60页
   ·结深的影响第60页
   ·小结第60-61页
第六章 总结第61-63页
参考文献第63-67页
致谢第67-68页
发表论文第68页

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