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电子器件噪声的分形分析方法及软件研究

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-10页
   ·课题研究意义第8-9页
   ·全文内容安排第9-10页
第二章 传统电噪声分析方法的不足及分形方法的特点第10-22页
   ·半导体器件噪声的分类和特点第10-13页
   ·半导体器件噪声传统分析方法第13-16页
     ·概率密度函数与均值第14-15页
     ·功率谱密度第15-16页
   ·传统分析方法的不足第16-18页
   ·分形理论及其特点第18-22页
第三章 分形维数的定义及其计算方法第22-32页
   ·分维概念的诞生第22-25页
   ·几种常见的维数定义第25-28页
   ·软件流程与验证第28-30页
   ·噪声信号的分维第30-32页
第四章 噪声信号的奇异性研究方法与应用第32-56页
   ·多重分形的定义第32-35页
   ·小波理论第35-37页
   ·噪声信号奇异点的提取方法第37-39页
   ·基于子波分解模极大的多重分形奇异谱的算法第39-44页
   ·局部奇异值的计算第44-48页
   ·软件应用第48-56页
     ·电迁移过程中信号奇异性的变化第48-51页
     ·光耦器件的筛选第51-56页
第五章 噪声信号的关联性分析方法及应用第56-64页
   ·去趋势分析算法简介第56-59页
   ·软件流程与验证第59-61页
   ·电迁移噪声关联性分析第61-64页
第六章 总结与展望第64-66页
   ·论文成果第64页
   ·展望第64-66页
致谢第66-68页
参考文献第68-72页
在研期间主要研究成果第72页

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