电子器件噪声的分形分析方法及软件研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·课题研究意义 | 第8-9页 |
| ·全文内容安排 | 第9-10页 |
| 第二章 传统电噪声分析方法的不足及分形方法的特点 | 第10-22页 |
| ·半导体器件噪声的分类和特点 | 第10-13页 |
| ·半导体器件噪声传统分析方法 | 第13-16页 |
| ·概率密度函数与均值 | 第14-15页 |
| ·功率谱密度 | 第15-16页 |
| ·传统分析方法的不足 | 第16-18页 |
| ·分形理论及其特点 | 第18-22页 |
| 第三章 分形维数的定义及其计算方法 | 第22-32页 |
| ·分维概念的诞生 | 第22-25页 |
| ·几种常见的维数定义 | 第25-28页 |
| ·软件流程与验证 | 第28-30页 |
| ·噪声信号的分维 | 第30-32页 |
| 第四章 噪声信号的奇异性研究方法与应用 | 第32-56页 |
| ·多重分形的定义 | 第32-35页 |
| ·小波理论 | 第35-37页 |
| ·噪声信号奇异点的提取方法 | 第37-39页 |
| ·基于子波分解模极大的多重分形奇异谱的算法 | 第39-44页 |
| ·局部奇异值的计算 | 第44-48页 |
| ·软件应用 | 第48-56页 |
| ·电迁移过程中信号奇异性的变化 | 第48-51页 |
| ·光耦器件的筛选 | 第51-56页 |
| 第五章 噪声信号的关联性分析方法及应用 | 第56-64页 |
| ·去趋势分析算法简介 | 第56-59页 |
| ·软件流程与验证 | 第59-61页 |
| ·电迁移噪声关联性分析 | 第61-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·论文成果 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 在研期间主要研究成果 | 第72页 |