| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| §1．1 无损检测技术的现状和发展趋势 | 第7-11页 |
| 1．1．1 无损检测概述 | 第7-8页 |
| 1．1．2 无损检测的发展 | 第8-11页 |
| §1．2 交变磁场测量法(ACFM)国内外现状及发展趋势 | 第11-13页 |
| §1．3 课题来源及意义 | 第13页 |
| §1．4 论文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 矩形线圈检测薄板缺陷的基本原理 | 第15-21页 |
| §2．1 矩形激励线圈测量薄板缺陷的数学模型和理论基础 | 第15-19页 |
| §2．2 交变磁场测量法(ACFM)测量薄板缺陷的基本原理 | 第19-21页 |
| 第三章 传感器的设计 | 第21-28页 |
| §3．1 单矩形激励线圈的设计 | 第21页 |
| §3．2 磁芯的选择 | 第21-23页 |
| §3．3 正交型矩形激励线圈的设计 | 第23-25页 |
| §3．4 检测线圈的设计 | 第25-28页 |
| 第四章 薄板缺陷检测系统的设计 | 第28-45页 |
| §4．1 系统总体框图 | 第28页 |
| §4．2 信号调理 | 第28-31页 |
| §4．3 硬件相关电路的设计 | 第31-33页 |
| §4．4 硬件相关电路的仿真分析 | 第33-35页 |
| §4．5 数字滤波器的设计与实现 | 第35-43页 |
| 4．5．1 IIR滤波器的设计 | 第35-39页 |
| 4．5．2 简单整系数滤波器的设计 | 第39-43页 |
| §4．6 系统的软件设计 | 第43-45页 |
| 第五章 铝板缺陷信号的分析与识别 | 第45-51页 |
| §5．1 缺陷信号 | 第45-47页 |
| 5．1．1 磁场强度Bz与缺陷长度的关系 | 第45-46页 |
| 5．1．2 磁场强度Bx与缺陷深度的关系 | 第46-47页 |
| §5．2 蝶形图 | 第47-48页 |
| §5．3 矩形窗方法检测与识别 | 第48-49页 |
| §5．4 相关方法的识别 | 第49-51页 |
| 第六章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第56页 |
