模式识别在溶液不溶性微粒检测中的应用研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景 | 第8页 |
| ·研究现状及发展趋势 | 第8-12页 |
| ·基于电阻法原理微粒检测方法概述 | 第9-11页 |
| ·基于光障碍法的微粒检测方法研究概述 | 第11-12页 |
| ·本文研究的意义及工作安排 | 第12-14页 |
| 第二章 基于模式识别的不溶性微粒检测方法研究 | 第14-30页 |
| ·基于模式识别的不溶性微粒的限度实验 | 第14-20页 |
| ·不溶性微粒限度实验的基本原理 | 第14-16页 |
| ·限度实验检测信息的获取 | 第16-17页 |
| ·自相关图像的二值化处理 | 第17-18页 |
| ·限度实验检测特征的选取 | 第18-20页 |
| ·基于模式识别的不溶性微粒计数原理概述 | 第20-21页 |
| ·基于模板匹配分类计数方法 | 第21-25页 |
| ·模板的选取原则 | 第22页 |
| ·模板匹配的分类算法基本步骤 | 第22-23页 |
| ·计数判别函数的构造。 | 第23-24页 |
| ·多类微粒计数的实现 | 第24-25页 |
| ·基于边界跟踪分类计数方法 | 第25-29页 |
| ·基于梯度图像的边界跟踪 | 第25-27页 |
| ·基于二值化位图的边界跟踪 | 第27页 |
| ·基于边界跟踪的分类计数方法 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 不溶性微粒计数的模型构建 | 第30-38页 |
| ·不溶性微粒计数的目的和意义 | 第30页 |
| ·不溶性微粒计数模型的构建 | 第30-33页 |
| ·单帧图像的微粒计数模型 | 第30-32页 |
| ·二值化位图的微粒计数模型 | 第32-33页 |
| ·微粒计数模型中参数的确定 | 第33-37页 |
| ·参数M的确定 | 第33-34页 |
| ·R的确定 | 第34页 |
| ·d的确定 | 第34页 |
| ·h的确定 | 第34-35页 |
| ·φ_t的确定 | 第35-36页 |
| ·D_(ij)的获取 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 微粒检测实验中的标定方法 | 第38-44页 |
| ·微粒检测实验中标定的作用和意义 | 第38-39页 |
| ·校正仪器 | 第38页 |
| ·限度实验的需要 | 第38-39页 |
| ·微粒检测实验中标定曲线的构造 | 第39-42页 |
| ·标准粒子的标定值获取 | 第39-40页 |
| ·标定曲线的拟合 | 第40-41页 |
| ·(?)_0、(?)_1的最小二乘估计 | 第41-42页 |
| ·标定曲线的应用 | 第42-43页 |
| ·用标定曲线校正仪器 | 第42-43页 |
| ·用标定曲线获取检验阈值 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 微粒检测实验的数据分析 | 第44-53页 |
| ·标定实验的结果分析 | 第44-49页 |
| ·标准微粒的性能指标 | 第44页 |
| ·标定实验的测量结果 | 第44-45页 |
| ·标定实验的结果分析 | 第45-48页 |
| ·微粒标定方法的修正 | 第48-49页 |
| ·微粒计数实验的结果分析 | 第49-51页 |
| ·微粒计数实验的结果 | 第49-50页 |
| ·基于修正标定值的微粒计数实验 | 第50-51页 |
| ·微粒检测实验的其他因素 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 结论与展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55页 |
