| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1．1 直流绝缘子的老化问题 | 第8页 |
| 1．2 国内外对绝缘子离子迁移现象的研究现状 | 第8-9页 |
| 1．3 直流绝缘子的老化试验方法 | 第9-10页 |
| 1．4 国内外离子迁移试验装置的现状和存在问题 | 第10-14页 |
| 1．4．1 清华大学离子迁移试验装置 | 第10-11页 |
| 1．4．2 电科院离子迁移试验装置 | 第11-12页 |
| 1．4．3 日本NGK公司离子迁移试验装置 | 第12-13页 |
| 1．4．4 离子迁移试验装置存在问题分析 | 第13-14页 |
| 1．5 本文的研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 新型离子迁移试验测量系统实施方案 | 第16-27页 |
| 2．1 问题的提出 | 第16页 |
| 2．2 方案的对比 | 第16-25页 |
| 2．2．1 方案1 | 第16-18页 |
| 2．2．2 方案2 | 第18-20页 |
| 2．2．3 方案3 | 第20-21页 |
| 2．2．4 方案4 | 第21-23页 |
| 2．2．5 方案5 | 第23-25页 |
| 2．3 方案的确定 | 第25-26页 |
| 2．4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 新型离子迁移试验测量系统硬件的设计与开发 | 第27-45页 |
| 3．1 泄漏电流测量原理 | 第27-28页 |
| 3．2 测量系统硬件回路的设计与分析 | 第28-30页 |
| 3．2．1 测量控制箱 | 第28-29页 |
| 3．2．2 微电流测量系统 | 第29-30页 |
| 3．2．3 测量控制与分析系统 | 第30页 |
| 3．3 测量系统硬件回路的组成 | 第30-33页 |
| 3．3．1 器件的选择 | 第30-31页 |
| 3．3．2 测量控制系统的研制 | 第31-33页 |
| 3．4 保护回路的设计与研制 | 第33-43页 |
| 3．4．1 保护元器件的选择 | 第33-40页 |
| 3．4．2 离子迁移试验测量系统保护电路的设计与实现 | 第40-43页 |
| 3．5 试验电压和温度的测量 | 第43-44页 |
| 3．6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 离子迁移试验测量系统软件的设计与实现 | 第45-59页 |
| 4．1 软件系统概述 | 第45-46页 |
| 4．2 软件系统功能介绍 | 第46-51页 |
| 4．2．1 参数设定和系统初始化 | 第46-48页 |
| 4．2．2 数据的采集、存储、显示以及控制部分 | 第48-51页 |
| 4．3 软件系统功能实现 | 第51-58页 |
| 4．3．1 控制部分的实现 | 第52-55页 |
| 4．3．2 累积电荷量的计算 | 第55-56页 |
| 4．3．3 多路信号循环测量的实现 | 第56-58页 |
| 4．4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 新型离子迁移试验测量系统的测试实验 | 第59-65页 |
| 5．1 测试实验概述 | 第59页 |
| 5．2 低压大电阻情况下的试验 | 第59-61页 |
| 5．3 在离子迁移实验室的实际测试 | 第61-63页 |
| 5．4 测试实验分析 | 第63-64页 |
| 5．5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第6章 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |