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SDR平台抗SEU性能评价关键技术研究

摘要第1-11页
ABSTRACT第11-12页
第一章 绪论第12-28页
   ·课题研究背景第12-17页
     ·软件定义无线电平台及其空间应用第12-13页
     ·空间辐射环境与集成电路的单粒子效应第13-16页
     ·SEU 对SDR 平台的威胁第16-17页
   ·国内外研究现状综述第17-26页
     ·抗辐射加固的研究现状第17-22页
     ·抗SEU 性能的评价方法研究现状第22-26页
   ·课题主要研究工作及论文安排第26-28页
第二章 SDR 平台体系结构及其抗SEU 设计加固技术第28-38页
   ·SDR 平台的体系结构第28-32页
     ·SDR 平台的硬件体系结构第28-31页
     ·SDR 平台的软件体系结构第31-32页
   ·高可靠的SDR 平台体系结构第32-34页
     ·金字塔形体系结构第32-33页
     ·对等可重构体系结构第33-34页
   ·应用层抗SEU 设计加固技术第34-37页
     ·微处理器的应用层抗SEU 设计加固第34-36页
     ·SRAM 型FPGA 的应用层抗SEU 设计加固第36-37页
   ·本章小结第37-38页
第三章 基于SPN 的建模分析方法第38-52页
   ·Petri 网和随机Petri 网模型第38-43页
     ·PN 模型第38-41页
     ·SPN 模型第41-43页
   ·SPN 建模分析方法第43-47页
     ·SPN 建模及可信性分析方法第43-45页
     ·硬件系统的SPN 建模第45页
     ·软件系统的SPN 建模第45-47页
   ·SPN 性能评价建模工具PIPE第47-49页
   ·SPN 模型的适用性问题第49-50页
   ·本章小结第50-52页
第四章 基于SEU 仿真注入的评价方法和测试系统设计第52-66页
   ·SEU 仿真注入测试原理第52-57页
     ·SEU 离散随机事件模型第52-54页
     ·测试注入集第54-57页
   ·SEU 仿真注入的关键技术第57-61页
     ·注入集压缩分解第57-58页
     ·位翻转并发注入第58-61页
   ·SEU 仿真注入测试系统的设计与实现第61-65页
     ·SEU 仿真注入测试系统的结构分析第62-63页
     ·SEU-SIT 系统的设计实现第63-64页
     ·测试流程设计第64-65页
   ·本章小结第65-66页
第五章 扩频应答机数字基带的SEU 仿真注入测试第66-76页
   ·扩频应答机数字基带第66-71页
     ·扩频应答机的系统结构第66-67页
     ·数字基带的硬件构成第67-69页
     ·软件的可靠性设计第69-71页
   ·TMS320C6412 的注入测试及结果分析第71-73页
   ·XC2V3000 的注入测试及结果分析第73-75页
   ·本章小结第75-76页
第六章 总结与展望第76-78页
致谢第78-79页
参考文献第79-87页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第87页

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