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13.56MHz片上天线设计和制作

摘要第1-5页
Abstract第5-7页
第一章 绪论第7-10页
   ·引言第7页
   ·RFID原理以及RFID天线介绍第7-9页
     ·RFID原理介绍第7-8页
     ·RFID天线第8-9页
   ·论文主要工作及组织结构第9-10页
第二章 13.56 MHz片上天线设计的理论分析第10-35页
   ·硅基片上电感模型的建立第10-12页
     ·分段等效的电路模型第10-11页
     ·集总π模型第11-12页
     ·片上天线选用的模型第12页
   ·片上天线的各寄生参数第12-18页
     ·各寄生参数计算公式第12-15页
     ·各寄生参数和几何尺寸之间的关系第15-18页
   ·集总π模型的简化第18-20页
     ·衬底的物理特性第18-19页
     ·片上天线的感应电压第19-20页
   ·工作性能的比较第20-27页
     ·谐振时天线的工作情况第21-24页
     ·非谐振时天线的工作情况第24-27页
   ·片上天线的损耗及抑制第27-34页
     ·片上天线的衬底损耗分析第27-29页
     ·金属导体损耗分析第29-32页
     ·连线损耗及相应的改进措施第32页
     ·衬底噪声的抑制第32-34页
   ·小结第34-35页
第三章 片上天线设计流程及具体实施例分析第35-44页
   ·13.56 MHz片上天线的设计流程第35页
   ·片上天线具体实施例分析第35-44页
     ·理论计算分析第35-43页
     ·天线结构选择第43-44页
第四章 片上天线版图设计及工艺制备第44-53页
   ·版图方案第44页
   ·版图设计第44-48页
     ·片上天线版图第45-46页
     ·片上电感版图第46-47页
     ·可测性设计第47-48页
   ·天线版图第48-49页
   ·片上天线的制备第49-53页
     ·主要工艺流程第50页
     ·工艺制备第50-53页
第五章 片上天线测试方案第53-58页
   ·电感测试第53-55页
     ·高频在片测试原理第53-54页
     ·在片测试系统第54-55页
   ·电感测试数据处理方法第55-57页
     ·S参数的去嵌入第55-57页
     ·测试参数提取第57页
   ·片上天线测试方案第57-58页
第六章 研究成果与展望第58-59页
   ·研究成果第58页
   ·展望第58-59页
参考文献第59-61页
致谢第61-62页

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