基于线阵CCD微位移计实现外螺纹检测技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| §1.1 引言 | 第7-8页 |
| §1.2 国内外CCD检测技术的发展现状 | 第8-9页 |
| §1.3 本文设计方案与内容 | 第9-10页 |
| 第二章 螺纹成像原理及分析 | 第10-15页 |
| §2.1 螺纹的几何形貌 | 第10-11页 |
| §2.2 线阵CCD微位移计测量原理 | 第11页 |
| §2.3 线阵CCD微位移计一维尺寸的测量方法 | 第11-13页 |
| §2.4 螺纹投影成像的分析 | 第13-14页 |
| §2.5 外螺纹参数的检测指标 | 第14-15页 |
| 第三章 外螺纹检测系统设计 | 第15-39页 |
| §3.1 径向几何尺寸精密测量分系统 | 第15-28页 |
| §3.2 轴向精密位移伺服分系统 | 第28-32页 |
| §3.3 数据分析、处理分系统 | 第32-39页 |
| 第四章 系统的误差来源与提高精度方法 | 第39-45页 |
| §4.1 误差与精度的基本概念 | 第39-40页 |
| §4.2 本测量系统的误差来源 | 第40-45页 |
| 第五章 测量结果数据处理 | 第45-53页 |
| §5.1 齿高数据的处理 | 第45-47页 |
| §5.2 齿顶角数据的处理 | 第47-49页 |
| §5.3 螺距测量结果数据处理 | 第49-50页 |
| §5.4 锥度测量结果数据处理 | 第50-53页 |
| 总结 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 附录1 | 第57-62页 |
