致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
1 绪论 | 第10-24页 |
·引言 | 第10-14页 |
·扩散连接的理论依据 | 第10-11页 |
·扩散连接的主要方法及其改进类型 | 第11-14页 |
·瞬时液相扩散连接技术 | 第14-22页 |
·瞬时液相扩散连接技术的特点 | 第14-16页 |
·瞬时液相扩散连接的过程及主要参数 | 第16-19页 |
·新型瞬时液相扩散连接技术 | 第19-22页 |
·TLP 连接技术研究进展及存在问题 | 第22-23页 |
·本文研究的目的意义以及主要内容 | 第23-24页 |
2 试验材料和研究方法 | 第24-32页 |
·试验材料 | 第24-25页 |
·珠光体耐热钢12Cr1MoV | 第24-25页 |
·中间层合金 | 第25页 |
·试验设备 | 第25-27页 |
·试验参数的选择 | 第27-29页 |
·中间层合金的确定 | 第27页 |
·连接温度的选择 | 第27-28页 |
·保温时间的计算 | 第28-29页 |
·连接压力的选择 | 第29页 |
·待焊表面的制备和清理 | 第29页 |
·研究内容和检测方法 | 第29-30页 |
·接头的力学性能 | 第29页 |
·接头的金相组织 | 第29-30页 |
·接头降熔元素的分布 | 第30页 |
·接头的断口形式 | 第30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
3 不同参数下 12Cr1MoV TLP 连接接头的组织与性能 | 第32-63页 |
·不同连接温度下 12Cr1MoVTLP 连接接头的组织性能变化 | 第32-45页 |
·实验方案 | 第32-33页 |
·不同连接温度下12Cr1MoVTLP 接头的力学性能 | 第33页 |
·不同连接温度下12Cr1MoVTLP 接头接头的微观组织 | 第33-34页 |
·不同连接温度下12Cr1MoVTLP 接头的降熔元素分布 | 第34-37页 |
·讨论 | 第37-44页 |
·本节小结 | 第44-45页 |
·不同连接压力下 12Cr1MoV TLP 连接接头的组织性能变化 | 第45-52页 |
·实验方案 | 第45页 |
·不同压力下12Cr1MoVTLP 接头的力学性能 | 第45-46页 |
·不同压力下12Cr1MoVTLP 接头的微观组织 | 第46-47页 |
·不同压力下12Cr1MoVTLP 接头降熔元素分布 | 第47-49页 |
·讨论 | 第49-52页 |
·本节小结 | 第52页 |
·不同保温时间 12Cr1MoVTLP 连接接头的组织与性能变化 | 第52-58页 |
·实验方案 | 第52-53页 |
·不同保温时间下12Cr1MoVTLP 接头的力学性能 | 第53页 |
·不同保温时间下12Cr1MoVTLP 接头的微观组织 | 第53-55页 |
·不同保温时间下12Cr1MoVTLP 接头降熔元素分布 | 第55-56页 |
·讨论 | 第56-58页 |
·本节小结 | 第58页 |
·不同连接参数间的相互作用 | 第58-59页 |
·12Cr1MoV TLP 连接接头断口分析 | 第59-60页 |
·焊缝区和母材区生成物 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
4 TLP 连接接头的焊接缺陷 | 第63-70页 |
·引言 | 第63页 |
·TLP 连接接头宏观缺陷 | 第63-65页 |
·错边缺陷及其防止 | 第63-64页 |
·膨胀鼓起缺陷及其防止 | 第64页 |
·表面氧化脱皮现象及其防止 | 第64-65页 |
·TLP 连接接头微观缺陷 | 第65-69页 |
·气孔 | 第65-66页 |
·结合不良 | 第66-67页 |
·夹渣 | 第67页 |
·残余共晶 | 第67-68页 |
·金属间化合物 | 第68-69页 |
·粗晶组织 | 第69页 |
·本章小结 | 第69-70页 |
5 结论 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-75页 |
作者简历 | 第75-76页 |
学位论文数据集 | 第76页 |