| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-31页 |
| 1.1 辐射定标技术的意义及作用 | 第11-14页 |
| 1.1.1 基于标准辐射源定标方法 | 第12-13页 |
| 1.1.2 基于标准探测器定标方法 | 第13页 |
| 1.1.3 两种定标方法的局限性 | 第13-14页 |
| 1.2 基于参量下转换的辐射定标方法 | 第14-18页 |
| 1.2.1 单光子源的研究意义 | 第17页 |
| 1.2.2 提高辐射定标精度的意义 | 第17-18页 |
| 1.3 标准单光子源国内外研究现状 | 第18-29页 |
| 1.3.1 量子点单光子源 | 第21-22页 |
| 1.3.2 基于色心单光子源 | 第22-23页 |
| 1.3.3 基于参量下转换的单光子源 | 第23-29页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第29-31页 |
| 1.4.1 主要研究内容 | 第29-30页 |
| 1.4.2 论文结构安排 | 第30-31页 |
| 第二章 高通量宽光谱低噪声相关光子制备理论 | 第31-55页 |
| 2.1 相位匹配的设计 | 第31-35页 |
| 2.1.1 相位匹配方式选择 | 第31-33页 |
| 2.1.2 相位匹配角度的选择 | 第33-35页 |
| 2.2 相关光子光谱分布理论 | 第35-37页 |
| 2.3 泵浦光与晶体的耦合 | 第37-39页 |
| 2.3.1 聚焦转换效率计算 | 第37-38页 |
| 2.3.2 与自由光束比较 | 第38-39页 |
| 2.4 背景辐射的抑制和测量 | 第39-47页 |
| 2.4.1 背景辐射的抑制 | 第39-41页 |
| 2.4.2 背景辐射的测量 | 第41-47页 |
| 2.5 晶体后端面倾斜的影响 | 第47-49页 |
| 2.6 相关光子产生初步验证 | 第49-54页 |
| 2.7 本章小结 | 第54-55页 |
| 第三章 单光子探测器量子效率高精度定标方法研究 | 第55-85页 |
| 3.1 基于时间间隔法探测器量子效率定标 | 第55-74页 |
| 3.1.1 探测器量子效率定标原理 | 第55-59页 |
| 3.1.2 关键设备选型依据 | 第59-63页 |
| 3.1.3 探测器量子效率定标装置 | 第63-65页 |
| 3.1.4 探测器量子效率定标结果 | 第65-74页 |
| 3.2 死时间和后脉冲测量 | 第74-84页 |
| 3.2.1 死时间测量 | 第74-76页 |
| 3.2.2 后脉冲测量 | 第76-81页 |
| 3.2.3 符合丢失因子α | 第81-83页 |
| 3.2.4 计数损耗因子γ | 第83-84页 |
| 3.3 本章小结 | 第84-85页 |
| 第四章 单光子探测器量子效率部件级定标及不确定度分析 | 第85-99页 |
| 4.1 测量不确定度评估与表述规范 | 第85页 |
| 4.2 不确定度合成分析 | 第85-95页 |
| 4.2.1 晶体损耗引起的测量不确定度 | 第86-88页 |
| 4.2.2 通道透过率测量不确定度 | 第88页 |
| 4.2.3 干涉滤光片透过率测量不确定度 | 第88-93页 |
| 4.2.4 探测器测量不确定度 | 第93-95页 |
| 4.3 量子效率结果校正 | 第95-97页 |
| 4.4 本章小结 | 第97-99页 |
| 第五章 基于参量下转换的单光子源制备 | 第99-117页 |
| 5.1 预告式单光子源制备 | 第99-107页 |
| 5.1.1 测量原理 | 第99-101页 |
| 5.1.2 实验装置 | 第101-102页 |
| 5.1.3 测量结果 | 第102-107页 |
| 5.2 腔型存储式单光子源制备 | 第107-115页 |
| 5.2.1 测量原理 | 第107-111页 |
| 5.2.2 测量装置 | 第111-112页 |
| 5.2.3 谐振腔损耗分析 | 第112-115页 |
| 5.3 本章小结 | 第115-117页 |
| 第六章 总结与展望 | 第117-123页 |
| 6.1 研究工作总结 | 第117-118页 |
| 6.2 主要创新成果 | 第118页 |
| 6.3 研究展望 | 第118-123页 |
| 6.3.1 腔型存储式单光子源定标系统优化 | 第118-121页 |
| 6.3.2 量子效率与死时间测量定标方法比对 | 第121-123页 |
| 参考文献 | 第123-129页 |
| 致谢 | 第129-131页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其它研究成果 | 第131页 |