基于NI-CompactRIO的交流仪表检验系统设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 课题来源 | 第14-15页 |
| 1.4 论文研究内容及结构 | 第15-16页 |
| 第2章 检验系统的关键技术与总体设计 | 第16-30页 |
| 2.1 交流仪表检验系统的关键技术 | 第16-23页 |
| 2.1.1 电能表的基本工作原理 | 第16-18页 |
| 2.1.2 基本电参量的计算方法 | 第18-21页 |
| 2.1.3 检验系统的基本检验方法 | 第21-22页 |
| 2.1.4 检验系统的基本结构 | 第22-23页 |
| 2.2 交流仪表检验系统的总体设计 | 第23-29页 |
| 2.2.1 交流仪表检验系统需求分析 | 第23-25页 |
| 2.2.2 交流仪表检验系统技术指标 | 第25页 |
| 2.2.3 系统总体设计方案 | 第25-27页 |
| 2.2.4 硬件平台—NI CompactRIO | 第27-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 交流仪表检验系统的硬件设计 | 第30-42页 |
| 3.1 检验系统总体硬件图 | 第30-31页 |
| 3.2 检验系统各模块电路设计 | 第31-41页 |
| 3.2.1 电源模块电路设计 | 第31页 |
| 3.2.2 主控系统电路设计 | 第31-36页 |
| 3.2.3 NI cRIO-9063模块 | 第36-37页 |
| 3.2.4 人机交互模块和面板电路设计 | 第37-39页 |
| 3.2.5 误差检测模块电路设计 | 第39-41页 |
| 3.3 硬件抗干扰和可靠性设计 | 第41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 交流仪表检验系统的软件设计 | 第42-66页 |
| 4.1 软件开发环境 | 第42页 |
| 4.2 软件总体方案 | 第42-43页 |
| 4.3 主控系统模块的软件设计 | 第43-48页 |
| 4.3.1 初始化模块设计 | 第43-44页 |
| 4.3.2 通信模块设计 | 第44-47页 |
| 4.3.3 计量模块设计 | 第47页 |
| 4.3.4 误差检测模块设计 | 第47-48页 |
| 4.4 NI cRIO模块软件设计 | 第48-58页 |
| 4.4.1 FPGA接口下创建项目 | 第48-50页 |
| 4.4.2 标准源的软件设计 | 第50-53页 |
| 4.4.3 标准表的软件设计 | 第53-57页 |
| 4.4.4 NI cRIO模块通信设计 | 第57-58页 |
| 4.5 人机交互模块软件设计 | 第58-62页 |
| 4.5.1 DGUS屏软件设计 | 第58-60页 |
| 4.5.2 通信参数及配置 | 第60-62页 |
| 4.6 上位机软件设计 | 第62-65页 |
| 4.6.1 VISA函数 | 第62-63页 |
| 4.6.2 上位机控源软件设计 | 第63-64页 |
| 4.6.3 上位机控源软件界面 | 第64页 |
| 4.6.4 上位机校表软件 | 第64-65页 |
| 4.7 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 交流仪表检验系统测试与结果 | 第66-79页 |
| 5.1 测试环境及内容 | 第66页 |
| 5.2 系统测试标准 | 第66-69页 |
| 5.3 系统准确度试验 | 第69-78页 |
| 5.3.1 基本误差试验 | 第69-74页 |
| 5.3.2 稳定性试验 | 第74-75页 |
| 5.3.3 影响量误差试验 | 第75-76页 |
| 5.3.4 波形失真度试验 | 第76-77页 |
| 5.3.5 起动测试试验 | 第77页 |
| 5.3.6 潜动测试试验 | 第77-78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-79页 |
| 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间所发表的学术成果 | 第85-86页 |
| 附录B 攻读硕士学位期间参与的项目 | 第86-87页 |
| 附录C 交流仪表检验系统PCB制板图 | 第87-88页 |
| 附录D 部分程序图 | 第88页 |
