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平面近场天线测量与多波束天线研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第13-15页
缩略语对照表第15-19页
第一章 绪论第19-31页
    1.1 研究背景及意义第19-20页
    1.2 国内外研究现状第20-28页
        1.2.1 平面近场天线测量第20-25页
        1.2.2 微带多波束天线第25-28页
    1.3 论文主要工作及内容安排第28-31页
        1.3.1 作者的主要工作第28-29页
        1.3.2 论文结构安排第29-31页
第二章 天线测量基本理论与技术第31-49页
    2.1 引言第31页
    2.2 天线测量基本技术第31-36页
        2.2.1 天线辐射场区的划分第31-32页
        2.2.2 天线测量技术的分类第32-33页
        2.2.3 各种近场测量系统的比较第33-36页
    2.3 平面波理论第36-39页
    2.4 球面波理论第39-42页
    2.5 对称振子天线的近远场计算第42-49页
        2.5.1 对称振子天线的近场表达第42-46页
        2.5.2 对称振子天线的远场表达第46-49页
第三章 宽角扫描天线测量方法研究第49-69页
    3.1 引言第49页
    3.2 宽角扫描天线测量的问题第49-53页
    3.3 基于坐标变换的测试方法第53-61页
        3.3.1 坐标系定义第54-56页
        3.3.2 坐标变换的基本概念第56-58页
        3.3.3 不同坐标系间方向图的转换第58-59页
        3.3.4 宽角扫描天线测量方法数值验证第59-61页
    3.4 实物测试验证第61-67页
        3.4.1 待测天线制作第61-63页
        3.4.2 验证测试第63-66页
        3.4.3 误差分析第66-67页
    3.5 小结第67-69页
第四章 阵列天线诊断技术研究第69-83页
    4.1 引言第69页
    4.2 基于口径场反演的阵列诊断第69-75页
        4.2.1 口径场反演方法第69-72页
        4.2.2 基于口径场反演的阵列诊断仿真分析第72-75页
    4.3 基于最小二乘法的阵列天线诊断第75-81页
        4.3.1 最小二乘法第76-77页
        4.3.2 基于最小二乘法的阵列诊断方法第77-79页
        4.3.3 基于最小二乘法的阵列诊断仿真分析第79-81页
    4.4 限制阵列诊断精度的因素第81-82页
    4.5 小结第82-83页
第五章 基于模式滤波的多径效应抑制技术第83-109页
    5.1 引言第83页
    5.2 模式滤波的基本概念第83-92页
        5.2.1 天线产生场的球面波展开第84-85页
        5.2.2 模式滤波对多径效应的抑制原理第85-89页
        5.2.3 方向图的坐标平移第89-90页
        5.2.4 模式滤波函数第90-92页
    5.3 模式滤波技术的数值仿真第92-107页
        5.3.1 仿真模型设置第92-93页
        5.3.2 仿真算例第93-106页
        5.3.3 仿真结论第106-107页
    5.4 小结第107-109页
第六章 多波束微带天线设计第109-131页
    6.1 引言第109页
    6.2 双波束天线设计第109-120页
        6.2.1 双波束天线技术指标要求第109-110页
        6.2.2 双波束天线单元和阵列设计第110-113页
        6.2.3 双波束天线馈电网络设计第113-117页
        6.2.4 双波束阵列仿真第117-118页
        6.2.5 双波束天线原理样机的测试第118-120页
    6.3 三波束天线设计第120-129页
        6.3.1 三波束天线的基本结构第120-121页
        6.3.2 三波束天线的单元设计第121-122页
        6.3.3 宽带移相器设设计第122-125页
        6.3.4 三波束天线的馈电网络设计第125-127页
        6.3.5 三波束天线原理样机的测试第127-129页
    6.4 小结第129-131页
第七章 总结与展望第131-135页
    7.1 本文研究结论第131-132页
    7.2 后续工作展望第132-135页
参考文献第135-143页
致谢第143-145页
作者简介第145-146页

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