| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题背景和研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 污秽绝缘子沿面放电机理 | 第11-12页 |
| 1.3 研究现状 | 第12-16页 |
| 1.3.1 污秽绝缘子表面放电检测技术的研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3.2 污秽绝缘子绝缘状态和闪络预警的研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 污秽放电紫外光谱分布及图像量化参数提取 | 第17-31页 |
| 2.1 污秽绝缘子放电的光辐射特性研究 | 第17-20页 |
| 2.2 日盲紫外成像仪的工作原理 | 第20-22页 |
| 2.3 量化参数的定义及提取 | 第22-30页 |
| 2.3.1 光斑区域的提取 | 第23-28页 |
| 2.3.2 量化参数的定义与计算 | 第28-29页 |
| 2.3.3 光斑面积序列的提取 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 污秽瓷绝缘子放电紫外图谱特性研究 | 第31-58页 |
| 3.1 实验装置 | 第31-33页 |
| 3.2 试验方法 | 第33-34页 |
| 3.2.1 试验试品与染污 | 第33-34页 |
| 3.2.2 实验步骤 | 第34页 |
| 3.3 单片污秽绝缘子随湿度和盐密变化的特性研究 | 第34-41页 |
| 3.3.1 单片污秽绝缘子紫外图像随湿度变化的特性 | 第34-36页 |
| 3.3.2 单片污秽绝缘子紫外图像随盐密变化的特性 | 第36-38页 |
| 3.3.3 放电光斑面积特征参数提取 | 第38-41页 |
| 3.4 多片绝缘子放电下的紫外图像特征 | 第41-48页 |
| 3.4.1 相邻绝缘子光斑区域的重叠特性 | 第42-43页 |
| 3.4.2 三片绝缘子量化特征参量随湿度和盐密的变化关系 | 第43-45页 |
| 3.4.3 七片绝缘子量化特征参量随湿度和盐密的变化关系 | 第45-48页 |
| 3.5 绝缘状态划分 | 第48-52页 |
| 3.6 光斑面积随距离的变化特性研究 | 第52-57页 |
| 3.6.1 光斑面积随距离的变化曲线 | 第53-56页 |
| 3.6.2 光斑面积值的观测归一化 | 第56-57页 |
| 3.7 本章总结 | 第57-58页 |
| 第4章 基于模糊理论的绝缘子绝缘状态评估和闪络预警 | 第58-70页 |
| 4.1 模糊数学的基本理论 | 第58-60页 |
| 4.1.1 模糊集合 | 第58-59页 |
| 4.1.2 隶属度函数 | 第59-60页 |
| 4.2 基于模糊聚类的绝缘状态评估和闪络预警 | 第60-69页 |
| 4.2.1 FCM聚类算法 | 第60-63页 |
| 4.2.2 FCM算法的迭代过程 | 第63-64页 |
| 4.2.3 FCM算法的Matlab实现 | 第64-65页 |
| 4.2.4 紫外图像特征的聚类分析 | 第65-68页 |
| 4.2.5 未知样本的类别判断方法 | 第68页 |
| 4.2.6 工程实际应用 | 第68-69页 |
| 4.3 本章总结 | 第69-70页 |
| 第5章 结论和展望 | 第70-72页 |
| 5.1 结论 | 第70-71页 |
| 5.2 展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第77页 |
