超高速并行光电模块的电子干扰以及传输信号的研究
| Abstract | 第7页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-13页 |
| 1.1 背景 | 第9-10页 |
| 1.2 超高速并行光模块的组成结构 | 第10-11页 |
| 1.3 超高速并行光模块的制造工艺 | 第11页 |
| 1.4 超高速并行光模块的测试意义和难点 | 第11页 |
| 1.5 本论文的工作和论文组织结构 | 第11-13页 |
| 第二章 超高速光电模块测试基本方法学和测试协议 | 第13-17页 |
| 2.1 模块测试的基本过程 | 第13页 |
| 2.2 模块测试的测试协议 | 第13-16页 |
| 2.2.1 协议的描述 | 第13-16页 |
| 小结 | 第16-17页 |
| 第三章 超高速并行光模块性能测试技术及优化 | 第17-32页 |
| 3.1 测试的重要性 | 第17页 |
| 3.2 测试的意义 | 第17-18页 |
| 3.3 各项参数的意义 | 第18-22页 |
| 3.3.1 光学测 | 第20页 |
| 3.3.2 电测试 | 第20-22页 |
| 3.3.2.1 电眼图测试 | 第20-21页 |
| 3.3.2.2 灵敏度的测试 | 第21-22页 |
| 3.4 基于灵敏度的优化测试方法 | 第22-25页 |
| 3.5 优化测试方法性能分析和比较 | 第25-31页 |
| 3.5.1 测试准确性 | 第25-30页 |
| 3.5.2 测试效率 | 第30-31页 |
| 小结 | 第31-32页 |
| 第四章 超高速并行光模块的EMI试 | 第32-37页 |
| 4.1 EMI测试的基本方法 | 第32-33页 |
| 4.2 一种简易的EMI预测试方法 | 第33-34页 |
| 4.3 测试数据及效果 | 第34-36页 |
| 小结 | 第36-37页 |
| 第五章 总结和展望 | 第37-38页 |
| 5.1 总结 | 第37页 |
| 5.2 前景展望 | 第37-38页 |
| 致谢 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39页 |
