| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 微波介质陶瓷性能参数 | 第10-13页 |
| 1.3 微波介质陶瓷体系及应用 | 第13-15页 |
| 1.3.1 微波介质陶瓷体系 | 第13-14页 |
| 1.3.2 微波介质陶瓷材料的应用 | 第14-15页 |
| 1.3.3 SiO_2陶瓷研究现状 | 第15页 |
| 1.4 本文立题依据及主要研究内容 | 第15-18页 |
| 第2章 样品制备及性能表征 | 第18-24页 |
| 2.1 陶瓷样品制备原料及设备 | 第18-19页 |
| 2.1.1 实验主要原料 | 第18-19页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第19页 |
| 2.2 样品制备方法及工艺流程 | 第19-20页 |
| 2.2.1 Sol-Gel法制备SiO_2纳米球及SiO_2陶瓷 | 第19-20页 |
| 2.2.2 传统固相法制备SiO_2微波介质陶瓷 | 第20页 |
| 2.3 陶瓷样品的表征及性能测试 | 第20-24页 |
| 2.3.1 粉体粒度分析 | 第20页 |
| 2.3.2 密度测试 | 第20-21页 |
| 2.3.3 相结构分析(XRD) | 第21页 |
| 2.3.4 微观形貌及能谱分析(SEM、EDX) | 第21页 |
| 2.3.5 微波介电性能测试 | 第21-24页 |
| 第3章 前驱粉体颗粒及烧结工艺对SiO_2陶瓷性能的影响 | 第24-36页 |
| 3.1 引言 | 第24-25页 |
| 3.2 前驱粉体颗粒对SiO_2陶瓷性能的影响 | 第25-30页 |
| 3.2.1 样品的制备 | 第25页 |
| 3.2.2 SiO_2颗粒的微观结构及粒度分析 | 第25-26页 |
| 3.2.3 陶瓷样品的烧结性能 | 第26-27页 |
| 3.2.4 陶瓷样品的相结构 | 第27页 |
| 3.2.5 陶瓷样品的显微结构 | 第27-28页 |
| 3.2.6 样品的微波介电性能 | 第28-30页 |
| 3.3 烧结工艺对SiO_2陶瓷性能的影响 | 第30-34页 |
| 3.3.1 实验过程 | 第30-31页 |
| 3.3.2 陶瓷样品的烧结性能 | 第31-32页 |
| 3.3.3 陶瓷样品的相结构 | 第32页 |
| 3.3.4 陶瓷样品的显微结构 | 第32-33页 |
| 3.3.5 样品的微波介电性能 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第4章 SiO_2陶瓷谐振频率温度系数的调节 | 第36-50页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 添加金红石制备(1-x)SiO_(2-x)TiO_2(RST)陶瓷及其性能研究 | 第36-42页 |
| 4.2.1 实验过程 | 第36-37页 |
| 4.2.2 RST陶瓷的结构与性能表征 | 第37-42页 |
| 4.3 添加锐钛矿制备(1-x)SiO_(2-x)TiO_2(RST)陶瓷及其性能研究 | 第42-47页 |
| 4.3.1 实验过程 | 第42-43页 |
| 4.3.2 AST陶瓷的结构与微波介电性能表征 | 第43-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-50页 |
| 第5章 SiO_2陶瓷的低温烧结 | 第50-62页 |
| 5.1 引言 | 第50页 |
| 5.2 添加B_2O_3对RST陶瓷微波介电性能的影响 | 第50-55页 |
| 5.2.1 实验过程 | 第50-51页 |
| 5.2.2 陶瓷样品的结构与性能表征 | 第51-55页 |
| 5.3 添加B_2O_3对AST陶瓷微波介电性能的影响 | 第55-60页 |
| 5.3.1 实验过程 | 第55页 |
| 5.3.2 陶瓷样品的结构与性能表征 | 第55-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第6章 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 攻读硕士学位期间科研成果 | 第72页 |
