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硅衬底LED可靠性测试与寿命模型的研究

摘要第10-12页
ABSTRACT第12-13页
第一章 绪论第14-20页
    1.1 引言第14页
    1.2 硅衬底GaN基LED发展历史第14页
    1.3 硅衬底GaN基LED的优点及问题第14-15页
    1.4 LED的可靠性研究第15-18页
        1.4.1 可靠性概述第15-17页
        1.4.2 LED失效形式第17页
        1.4.3 LED可靠性测试标准第17-18页
    1.5 论文的研究意义及内容安排第18-20页
第二章 LED加速寿命模型研究第20-26页
    2.1 LED加速寿命理论概述第20-22页
    2.2 LED加速寿命模型第22-25页
        2.2.1 阿列纽斯模型第22-23页
        2.2.2 艾林模型第23页
        2.2.3 逆幂律模型第23-24页
        2.2.4 其他模型第24-25页
    2.3 本章小结第25-26页
第三章 LED可靠性测试系统设计与实现第26-56页
    3.1 系统总体设计第26-28页
    3.2 LED电参数测试系统设计与实现第28-40页
        3.2.1 LED电参数第28-30页
        3.2.2 LED电参数测试系统硬件概述第30页
        3.2.3 LED电参数测试系统软件设计第30-38页
            3.2.3.1 GPD-3303S与计算机连接设置部分第33-34页
            3.2.3.2 手动、自动模式切换部分第34-36页
            3.2.3.3 绘制V-I曲线部分第36页
            3.2.3.4 电导数部分第36-38页
            3.2.3.5 保存数据部分第38页
        3.2.4 LED电参数测试系统部分实验结果第38-40页
    3.3 LED热参数测试系统设计与实现第40-50页
        3.3.1 LED热参数第40页
        3.3.2 多路隔离的Modbus协议转换器第40-49页
            3.3.2.1 以太网和协议转换器涉及通信协议介绍第41-43页
            3.3.2.2 设计实现第43-48页
            3.3.2.3 协议转换器扩展功能第48-49页
        3.3.3 LED热参数测试系统软件设计第49-50页
    3.4 LED光色参数测试系统设计与实现第50-55页
        3.4.1 LED光色参数第50-51页
        3.4.2 LED光色参数测试系统硬件概述第51-52页
        3.4.3 LED光色参数测试系统软件概述第52-54页
        3.4.4 LED光色参数测试系统部分实验结果第54-55页
    3.5 本章小结第55-56页
第四章 基于GA-BP神经网络的LED寿命模型第56-80页
    4.1 BP神经网络概述第56-57页
    4.2 GA-BP神经网络模型设计及实现第57-60页
    4.3 基于LM-80-08数据及GA-BP的LED寿命预测模型第60-68页
        4.3.1 LED寿命预测模型第60-61页
        4.3.2 模型仿真实现第61-65页
        4.3.3 预测结果及对比第65-66页
        4.3.4 网络输入权重分析第66-67页
        4.3.5 结论第67-68页
    4.4 基于模拟退火算法及GA-BP的LED加速寿命模型第68-79页
        4.4.1 LED加速寿命模型第68-70页
        4.4.2 LED加速老化试验结果及模型仿真对比第70-79页
        4.4.3 结论第79页
    4.5 本章小结第79-80页
第五章 总结与展望第80-82页
    5.1 论文总结第80-81页
    5.2 论文展望第81-82页
参考文献第82-88页
致谢第88-89页
攻读学位期间取得的学术成果第89-90页
学位论文评阒及答辩情况表第90页

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