| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 压电陶瓷及压电效应 | 第8-10页 |
| 1.1.1 压电陶瓷及其内部结构 | 第8-9页 |
| 1.1.2 压电效应 | 第9-10页 |
| 1.2 PZT压电陶瓷研究与发展动态 | 第10-13页 |
| 1.2.1 PZT压电陶瓷的研究 | 第10-12页 |
| 1.2.2 PZT压电陶瓷的发展动态 | 第12-13页 |
| 1.3 压电陶瓷的应用 | 第13-15页 |
| 1.4 压电陶瓷的表面金属化 | 第15-18页 |
| 1.5 课题的研究目的及意义 | 第18-19页 |
| 1.6 课题研究的主要内容 | 第19-20页 |
| 第二章 实验过程及测试手段 | 第20-25页 |
| 2.1 实验原料及仪器设备 | 第20-21页 |
| 2.2 实验工艺 | 第21-22页 |
| 2.3 性能测试及仪器装置 | 第22-25页 |
| 2.3.1 体积密度 | 第22页 |
| 2.3.2 相对介电常数ε_(33)~T/ ε_0 及介电损耗tanδ | 第22-23页 |
| 2.3.3 压电系数d_(33) | 第23页 |
| 2.3.4 机电耦合系数K_p | 第23页 |
| 2.3.5 显微结构及物相分析 | 第23-24页 |
| 2.3.6 居里温度T_c | 第24-25页 |
| 第三章 Sb_2O_3掺杂的PZT压电陶瓷的研究 | 第25-48页 |
| 3.1 最佳配方的选择 | 第25-36页 |
| 3.1.1 物相分析（XRD） | 第26-27页 |
| 3.1.2 显微形貌分析（SEM） | 第27-29页 |
| 3.1.3 介电压电性能 | 第29-32页 |
| 3.1.4 居里温度 | 第32-36页 |
| 3.2 不同掺杂方式对PSZT压电陶瓷的影响 | 第36-41页 |
| 3.2.1 物相分析（XRD） | 第36-37页 |
| 3.2.2 显微形貌分析（SEM） | 第37-39页 |
| 3.2.3 介电压电性能 | 第39-41页 |
| 3.3 不同电极不同烧渗温度对PSZT压电陶瓷性能的影响 | 第41-46页 |
| 3.3.1 介电压电性能 | 第41-43页 |
| 3.3.2 微观形貌分析 | 第43-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 Li掺杂的PSZT压电陶瓷显微结构与机电性能的研究 | 第48-65页 |
| 4.1 高Li含量对PSZT压电陶瓷性能的影响 | 第48-56页 |
| 4.1.1 物相分析（XRD） | 第48-51页 |
| 4.1.2 显微形貌分析（SEM） | 第51-53页 |
| 4.1.3 介电压电性能 | 第53-55页 |
| 4.1.4 居里温度 | 第55-56页 |
| 4.2 低Li掺杂对PSZT压电陶瓷性能的影响 | 第56-64页 |
| 4.2.1 物相分析（XRD） | 第56-57页 |
| 4.2.2 显微形貌分析（SEM） | 第57-58页 |
| 4.2.3 介电压电性能 | 第58-60页 |
| 4.2.4 居里温度 | 第60-64页 |
| 4.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
