基于缺陷分析的软件体系结构退化研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 软件体系结构的评估方法 | 第10-11页 |
| 1.2.2 软件体系结构退化 | 第11-12页 |
| 1.2.3 缺陷体系结构 | 第12-13页 |
| 1.3 研究内容和论文组织 | 第13-14页 |
| 1.4 本章小结 | 第14-15页 |
| 2 软件缺陷的相关研究 | 第15-26页 |
| 2.1 软件缺陷 | 第15-20页 |
| 2.1.1 软件缺陷的概念 | 第15-16页 |
| 2.1.2 缺陷分类 | 第16-18页 |
| 2.1.3 缺陷分析的技术 | 第18-20页 |
| 2.2 软件缺陷的性质 | 第20-21页 |
| 2.3 软件缺陷与软件体系结构退化 | 第21-25页 |
| 2.3.1 多组件缺陷与体系结构退化 | 第21-22页 |
| 2.3.2 单组件缺陷与体系结构退化 | 第22页 |
| 2.3.3 化关键组件 | 第22-24页 |
| 2.3.4 退化关键组件关系 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 3 面向缺陷分析的缺陷分类方法 | 第26-35页 |
| 3.1 缺陷数据的来源 | 第26-28页 |
| 3.2 DC4DA介绍 | 第28-30页 |
| 3.2.1 DC4DA缺陷数据的定义 | 第28-30页 |
| 3.2.2 DC4DA的数据收集 | 第30页 |
| 3.3 数据仓库中的多维数据模型 | 第30-32页 |
| 3.3.1 数据模型的分类 | 第31页 |
| 3.3.2 数据模型的特点 | 第31页 |
| 3.3.3 常用的逻辑模型 | 第31-32页 |
| 3.4 DC4DA缺陷数据的存储及特点 | 第32-34页 |
| 3.4.1 缺陷数据的存储方式 | 第32-34页 |
| 3.4.2 缺陷数据的特点 | 第34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 软件缺陷体系结构模型 | 第35-48页 |
| 4.1 结合缺陷危害度的缺陷度量方法 | 第35-39页 |
| 4.1.1 缺陷危害度 | 第36页 |
| 4.1.2 面向组件的缺陷度量方法 | 第36-38页 |
| 4.1.3 面向子系统的缺陷度量方法 | 第38-39页 |
| 4.2 缺陷体系结构模型框架 | 第39-40页 |
| 4.3 子系统层缺陷体系结构 | 第40-43页 |
| 4.4 组件层缺陷体系结构 | 第43-44页 |
| 4.5 组件缺陷分析 | 第44-46页 |
| 4.5.1 缺陷移除矩阵 | 第45-46页 |
| 4.5.2 缺陷类型分析 | 第46页 |
| 4.6 缺陷体系结构的演化 | 第46-47页 |
| 4.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 5 原型系统的实现及实例分析 | 第48-57页 |
| 5.1 开发环境 | 第48页 |
| 5.2 原型系统的实现 | 第48-54页 |
| 5.2.1 缺陷数据的设计 | 第49页 |
| 5.2.2 缺陷管理 | 第49-51页 |
| 5.2.3 缺陷分析 | 第51-54页 |
| 5.3 实例分析 | 第54-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 6 总结与展望 | 第57-59页 |
| 6.1 研究总结 | 第57页 |
| 6.2 进一步研究工作 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 攻读学位期间主要研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
