基于环形阵列的超声层析检测方法
摘要 | 第6-8页 |
Abstract | 第8-9页 |
符号列表 | 第15-16页 |
第1章 绪论 | 第16-30页 |
1.1 引言 | 第16页 |
1.2 研究意义 | 第16-17页 |
1.3 超声层析技术概述 | 第17-19页 |
1.4 超声层析研究进展和现状 | 第19-27页 |
1.5 本文的主要研究内容 | 第27-30页 |
第2章 环形阵列检测区域内的声传播 | 第30-46页 |
2.1 环绕式阵列 | 第30-32页 |
2.1.1 环绕式阵列的分类 | 第30页 |
2.1.2 圆环形阵列 | 第30-32页 |
2.2 基于波动方程的两相耦合声传播仿真 | 第32-44页 |
2.2.1 波动方程的导出 | 第33-34页 |
2.2.2 仿真设计 | 第34-37页 |
2.2.3 波长小于被测物时的声传播 | 第37-39页 |
2.2.4 波长大于被测物时的声传播 | 第39-40页 |
2.2.5 波长和被测物尺寸接近时的声传播 | 第40-44页 |
2.3 本章小结 | 第44-46页 |
第3章 超声层析成像基本原理 | 第46-60页 |
3.1 非衍射层析成像的数学基础 | 第46-54页 |
3.1.1 反涂抹迭代成像 | 第47-48页 |
3.1.2 傅立叶切片定理 | 第48-50页 |
3.1.3 滤波反投影重建 | 第50-52页 |
3.1.4 第二类滤波反投影重建——雷当反变换 | 第52-54页 |
3.2 衍射层析成像的数学基础 | 第54-58页 |
3.2.1 均匀介质中的波动方程 | 第55-56页 |
3.2.2 非均匀介质中的波动方程 | 第56-58页 |
3.3 本章小结 | 第58-60页 |
第4章 基于时域波形的阵列反投影重建 | 第60-94页 |
4.1 基于声时的椭圆定位成像 | 第60-69页 |
4.1.1 耦合介质的声波反射 | 第60-62页 |
4.1.2 椭圆定位原理 | 第62-65页 |
4.1.3 影响定位的因素 | 第65-69页 |
4.2 全时域波形椭圆反投影重建 | 第69-73页 |
4.2.1 全时域椭圆成像原理 | 第69-71页 |
4.2.2 多物体重建成像 | 第71-73页 |
4.3 基于声时的双曲线定位成像 | 第73-74页 |
4.4 全时域波形双曲线反投影重建 | 第74-79页 |
4.5 透射法超声概率重建 | 第79-92页 |
4.5.1 概率重建的原理 | 第79-83页 |
4.5.2 概率成像信号对比 | 第83-86页 |
4.5.3 概率重建成像 | 第86-92页 |
4.6 本章小结 | 第92-94页 |
第5章 基于射线理论的超声慢度差重建 | 第94-106页 |
5.1 代数重建 | 第94-97页 |
5.2 超声慢度差反涂抹代数重建 | 第97-105页 |
5.2.1 时间量成像和能量成像的不同 | 第97-98页 |
5.2.2 慢度差重建原理 | 第98-100页 |
5.2.3 弱散射情况下的慢度差重建 | 第100-105页 |
5.3 本章小结 | 第105-106页 |
第6章 液浸环形阵列超声层析检测验证 | 第106-142页 |
6.1 环形阵列超声层析检测系统构成 | 第106-109页 |
6.2 固/液耦合时的固相检测 | 第109-113页 |
6.2.1 全时域波形椭圆算法固相检测实验 | 第109-110页 |
6.2.2 全时域波形双曲线算法固相检测实验 | 第110-112页 |
6.2.3 概率算法固/液检测实验 | 第112-113页 |
6.3 气/液耦合时的气相检测实验 | 第113-116页 |
6.3.1 全时域波形椭圆算法气/液检测实验 | 第114-115页 |
6.3.2 全时域波形双曲线算法气/液检测实验 | 第115页 |
6.3.3 概率算法气/液检测实验 | 第115-116页 |
6.4 分辨力实验 | 第116-126页 |
6.4.1 被测物自身细节分辨 | 第116-120页 |
6.4.2 两物体之间的最小间隔分辨 | 第120-126页 |
6.5 最小检测值(检测灵敏度)实验 | 第126-129页 |
6.5.1 全时域波形椭圆算法的最小检测值 | 第127-128页 |
6.5.2 全时域波形双曲线算法的最小检测值 | 第128-129页 |
6.6 检测范围及位置灵敏度实验 | 第129-134页 |
6.6.1 全时域波形椭圆算法的检测范围 | 第130-131页 |
6.6.2 全时域波形双曲线算法的检测范围 | 第131-132页 |
6.6.3 概率算法的检测范围 | 第132-134页 |
6.6.4 位置灵敏度 | 第134页 |
6.7 阵元属性和成像的关系 | 第134-139页 |
6.7.1 阵元频率和分辨力的关系 | 第134-137页 |
6.7.2 阵元大小、数量和成像的关系 | 第137-139页 |
6.8 成像时间计算 | 第139-140页 |
6.9 本章小结 | 第140-142页 |
结论 | 第142-146页 |
参考文献 | 第146-156页 |
攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第156-158页 |
致谢 | 第158-159页 |
作者简介 | 第159页 |