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基于环形阵列的超声层析检测方法

摘要第6-8页
Abstract第8-9页
符号列表第15-16页
第1章 绪论第16-30页
    1.1 引言第16页
    1.2 研究意义第16-17页
    1.3 超声层析技术概述第17-19页
    1.4 超声层析研究进展和现状第19-27页
    1.5 本文的主要研究内容第27-30页
第2章 环形阵列检测区域内的声传播第30-46页
    2.1 环绕式阵列第30-32页
        2.1.1 环绕式阵列的分类第30页
        2.1.2 圆环形阵列第30-32页
    2.2 基于波动方程的两相耦合声传播仿真第32-44页
        2.2.1 波动方程的导出第33-34页
        2.2.2 仿真设计第34-37页
        2.2.3 波长小于被测物时的声传播第37-39页
        2.2.4 波长大于被测物时的声传播第39-40页
        2.2.5 波长和被测物尺寸接近时的声传播第40-44页
    2.3 本章小结第44-46页
第3章 超声层析成像基本原理第46-60页
    3.1 非衍射层析成像的数学基础第46-54页
        3.1.1 反涂抹迭代成像第47-48页
        3.1.2 傅立叶切片定理第48-50页
        3.1.3 滤波反投影重建第50-52页
        3.1.4 第二类滤波反投影重建——雷当反变换第52-54页
    3.2 衍射层析成像的数学基础第54-58页
        3.2.1 均匀介质中的波动方程第55-56页
        3.2.2 非均匀介质中的波动方程第56-58页
    3.3 本章小结第58-60页
第4章 基于时域波形的阵列反投影重建第60-94页
    4.1 基于声时的椭圆定位成像第60-69页
        4.1.1 耦合介质的声波反射第60-62页
        4.1.2 椭圆定位原理第62-65页
        4.1.3 影响定位的因素第65-69页
    4.2 全时域波形椭圆反投影重建第69-73页
        4.2.1 全时域椭圆成像原理第69-71页
        4.2.2 多物体重建成像第71-73页
    4.3 基于声时的双曲线定位成像第73-74页
    4.4 全时域波形双曲线反投影重建第74-79页
    4.5 透射法超声概率重建第79-92页
        4.5.1 概率重建的原理第79-83页
        4.5.2 概率成像信号对比第83-86页
        4.5.3 概率重建成像第86-92页
    4.6 本章小结第92-94页
第5章 基于射线理论的超声慢度差重建第94-106页
    5.1 代数重建第94-97页
    5.2 超声慢度差反涂抹代数重建第97-105页
        5.2.1 时间量成像和能量成像的不同第97-98页
        5.2.2 慢度差重建原理第98-100页
        5.2.3 弱散射情况下的慢度差重建第100-105页
    5.3 本章小结第105-106页
第6章 液浸环形阵列超声层析检测验证第106-142页
    6.1 环形阵列超声层析检测系统构成第106-109页
    6.2 固/液耦合时的固相检测第109-113页
        6.2.1 全时域波形椭圆算法固相检测实验第109-110页
        6.2.2 全时域波形双曲线算法固相检测实验第110-112页
        6.2.3 概率算法固/液检测实验第112-113页
    6.3 气/液耦合时的气相检测实验第113-116页
        6.3.1 全时域波形椭圆算法气/液检测实验第114-115页
        6.3.2 全时域波形双曲线算法气/液检测实验第115页
        6.3.3 概率算法气/液检测实验第115-116页
    6.4 分辨力实验第116-126页
        6.4.1 被测物自身细节分辨第116-120页
        6.4.2 两物体之间的最小间隔分辨第120-126页
    6.5 最小检测值(检测灵敏度)实验第126-129页
        6.5.1 全时域波形椭圆算法的最小检测值第127-128页
        6.5.2 全时域波形双曲线算法的最小检测值第128-129页
    6.6 检测范围及位置灵敏度实验第129-134页
        6.6.1 全时域波形椭圆算法的检测范围第130-131页
        6.6.2 全时域波形双曲线算法的检测范围第131-132页
        6.6.3 概率算法的检测范围第132-134页
        6.6.4 位置灵敏度第134页
    6.7 阵元属性和成像的关系第134-139页
        6.7.1 阵元频率和分辨力的关系第134-137页
        6.7.2 阵元大小、数量和成像的关系第137-139页
    6.8 成像时间计算第139-140页
    6.9 本章小结第140-142页
结论第142-146页
参考文献第146-156页
攻读学位期间发表论文与研究成果清单第156-158页
致谢第158-159页
作者简介第159页

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