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室温制备非晶ZnO薄膜及其电阻开关特性研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-21页
    1.1 引言第8-9页
    1.2 传统的Flash存储器第9-10页
    1.3 新型的存储器第10-17页
    1.4 低温制备ZnO电阻开关的研究现状第17-18页
    1.5 本论文的研究内容及意义第18-21页
2 非晶态氧化锌薄膜的制备方法及表征技术第21-26页
    2.1 引言第21页
    2.2 溶胶-凝胶法第21-23页
    2.3 紫外光固化第23页
    2.4 非晶态氧化锌薄膜的性能表征技术第23-25页
    2.5 本章小结第25-26页
3 室温制备非晶氧化锌薄膜及其电阻开关特性的研究第26-44页
    3.1 引言第26页
    3.2 室温制备非晶氧化锌薄膜及其器件第26-32页
    3.3 非晶氧化锌薄膜的组织结构特征第32-37页
    3.4 DUV-ZnO薄膜电阻开关特性和传导机制第37-43页
    3.5 本章小结第43-44页
4 非晶态氧化锌薄膜柔性结构电阻开关特性的研究第44-51页
    4.1 引言第44-45页
    4.2 柔性结构电阻开关特性分析第45-46页
    4.3 电阻开关特征及传导机制第46-47页
    4.4 柔性电阻开关特征第47-50页
    4.5 本章小结第50-51页
5 总结和展望第51-53页
致谢第53-54页
参考文献第54-62页
附录1攻读硕士学位期间发表论文目录第62页

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