基于180nm CMOS工艺的SAR ADC优化设计研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 引言 | 第12-18页 |
| 1.1 粒子物理实验中的电荷测量技术 | 第12-15页 |
| 1.1.1 过阈时间法 | 第12页 |
| 1.1.2 波形数字化 | 第12-13页 |
| 1.1.3 成形寻峰法 | 第13-14页 |
| 1.1.4 模拟数字转换器的使用 | 第14-15页 |
| 1.2 LHAASO WCDA的读出电子学系统 | 第15-16页 |
| 1.3 小结 | 第16-18页 |
| 第2章 ADC原理、结构与性能参数 | 第18-30页 |
| 2.1 ADC基本概念 | 第18页 |
| 2.2 常见ADC分类 | 第18-23页 |
| 2.2.1 Flash ADC | 第19页 |
| 2.2.2 Sub-range ADC | 第19-20页 |
| 2.2.3 流水线型ADC | 第20页 |
| 2.2.4 Σ-△ ADC | 第20-21页 |
| 2.2.5 逐次逼近型ADC | 第21-23页 |
| 2.3 性能参数 | 第23-26页 |
| 2.3.1 静态性能参数 | 第23-24页 |
| 2.3.2 动态性能参数 | 第24-26页 |
| 2.4 数字寻峰方法中的ADC | 第26-28页 |
| 2.5 小结 | 第28-30页 |
| 第3章 SAR ADC的优化设计研究 | 第30-48页 |
| 3.1 SAR ADC关键技术 | 第30-32页 |
| 3.2 研究工作中SAR ADC的优化设计需求 | 第32-34页 |
| 3.3 优化设计方案 | 第34-47页 |
| 3.3.1 影响静态性能的因素分析 | 第34-38页 |
| 3.3.2 影响动态性能的因素分析 | 第38-42页 |
| 3.3.3 优化设计方案 | 第42-47页 |
| 3.4 小结 | 第47-48页 |
| 第4章 验证电路设计 | 第48-62页 |
| 4.1 关键模块设计 | 第48-56页 |
| 4.1.1 采样开关 | 第48-49页 |
| 4.1.2 电容DAC | 第49-52页 |
| 4.1.3 动态比较器 | 第52-54页 |
| 4.1.4 量化过程控制逻辑 | 第54页 |
| 4.1.5 DAC的参考电压电路设计 | 第54-56页 |
| 4.1.6 时钟电路 | 第56页 |
| 4.2 多方案下各通道电路的实现 | 第56-61页 |
| 4.2.1 方案一 | 第56-57页 |
| 4.2.2 方案二 | 第57页 |
| 4.2.3 方案三 | 第57-58页 |
| 4.2.4 方案四 | 第58页 |
| 4.2.5 版图设计 | 第58-60页 |
| 4.2.6 制作与封装 | 第60-61页 |
| 4.3 小结 | 第61-62页 |
| 第5章 芯片测试 | 第62-82页 |
| 5.1 测试系统 | 第62-63页 |
| 5.2 数据处理方法 | 第63-66页 |
| 5.2.1 时域波形查看 | 第63-65页 |
| 5.2.2 静态性能参数计算 | 第65-66页 |
| 5.2.3 动态性能参数计算 | 第66页 |
| 5.3 测试结果 | 第66-78页 |
| 5.3.1 方案一 | 第66-69页 |
| 5.3.2 方案二 | 第69-71页 |
| 5.3.3 方案三 | 第71-75页 |
| 5.3.4 方案四 | 第75-78页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第78-81页 |
| 5.4.1 多方案结果对比 | 第78-80页 |
| 5.4.2 多方案测试结果分析 | 第80-81页 |
| 5.5 小结 | 第81-82页 |
| 第6章 总结与展望 | 第82-84页 |
| 6.1 总结 | 第82页 |
| 6.2 展望 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第88页 |
