| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 选题缘由和意义 | 第15-17页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.1.2 国内外产品和研究现状 | 第16-17页 |
| 1.1.3 论文研究意义 | 第17页 |
| 1.2 本文的主要工作及章节安排 | 第17-21页 |
| 第二章 设计方案 | 第21-37页 |
| 2.1 主要指标分析 | 第21-22页 |
| 2.2 整体设计方案 | 第22-23页 |
| 2.3 主要功能单元设计方案 | 第23-35页 |
| 2.3.1 晶体振荡电路方案 | 第23-25页 |
| 2.3.2 高精度的补偿算法方案 | 第25-28页 |
| 2.3.3 温度传感器方案 | 第28-29页 |
| 2.3.4 数模转换电路（DAC）方案 | 第29-31页 |
| 2.3.5 模数转换电路（ADC）方案 | 第31-32页 |
| 2.3.6 低功耗设计方案 | 第32-33页 |
| 2.3.7 电源管理方案 | 第33-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第三章 数字电路逻辑设计和数模/模数转换器设计 | 第37-49页 |
| 3.1 数字电路逻辑设计 | 第37-41页 |
| 3.1.1 ADC接口（ad_digital）模块 | 第37页 |
| 3.1.2 DAC接口（da_inf）模块 | 第37-38页 |
| 3.1.3 EEPROM接口（e2_intf）模块 | 第38-40页 |
| 3.1.4 相位检测（phase_detect）模块 | 第40-41页 |
| 3.2 数模转换电路（DAC）设计 | 第41-44页 |
| 3.2.1 概述 | 第41页 |
| 3.2.2 DAC的结构和电路设计 | 第41-44页 |
| 3.2.3 电路设计小结 | 第44页 |
| 3.3 模数转换电路（ADC）设计 | 第44-46页 |
| 3.3.1 概述 | 第44页 |
| 3.3.2 比较器设计 | 第44-45页 |
| 3.3.3 控制电路设计 | 第45页 |
| 3.3.4 电路设计小结 | 第45-46页 |
| 3.4 设计和验证过程中的硬件平台 | 第46-47页 |
| 3.4.1 逻辑部分FPGA功能验证 | 第46页 |
| 3.4.2 串口转I2C测试板 | 第46-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 成品芯片以及测试情况 | 第49-57页 |
| 4.1 最终产品形式 | 第49-50页 |
| 4.2 样片测试及结果 | 第50-55页 |
| 4.2.1 测试环境 | 第50-53页 |
| 4.2.2 测试方法 | 第53-54页 |
| 4.2.3 测试结果 | 第54-55页 |
| 4.3 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 批量调测系统的开发和使用 | 第57-65页 |
| 5.1 批量调测系统组成 | 第57-61页 |
| 5.1.1 硬件部分 | 第57-58页 |
| 5.1.2 软件部分 | 第58-61页 |
| 5.2 调测系统的使用 | 第61-63页 |
| 5.2.1 调试功能 | 第61页 |
| 5.2.2 检测功能 | 第61-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 结论和展望 | 第65-67页 |
| 6.1 研究结论 | 第65页 |
| 6.2 研究展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71-72页 |
