变压器绕组匝间耐压绝缘性能数字化测试装置研究与开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本章小结 | 第11-13页 |
| 第二章 匝间耐压测试仪测量原理 | 第13-25页 |
| 2.1 匝间耐压测试仪测量模型 | 第13-16页 |
| 2.2 匝间耐压测试仪检测方法 | 第16-20页 |
| 2.3 匝间耐压测试仪测量参数 | 第20-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 系统需求分析与总体方案设计 | 第25-37页 |
| 3.1 系统需求分析 | 第25-28页 |
| 3.1.1 性能指标需求 | 第25-26页 |
| 3.1.2 通讯方式需求 | 第26页 |
| 3.1.3 存储功能需求 | 第26-27页 |
| 3.1.4 电磁兼容性需求 | 第27-28页 |
| 3.1.5 可靠性需求 | 第28页 |
| 3.2 系统总体方案 | 第28-35页 |
| 3.2.1 高压源方案 | 第29-30页 |
| 3.2.2 处理器方案 | 第30-32页 |
| 3.2.3 操作系统方案 | 第32-33页 |
| 3.2.4 电磁兼容方案 | 第33页 |
| 3.2.5 系统总体结构图 | 第33-35页 |
| 3.3 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 系统硬件详细设计 | 第37-67页 |
| 4.1 硬件总体设计 | 第37-38页 |
| 4.2 高压单元 | 第38-51页 |
| 4.2.1 高压反馈调节电路 | 第38-42页 |
| 4.2.2 高压采样电路 | 第42-44页 |
| 4.2.3 高压开关电路 | 第44-50页 |
| 4.2.4 高压波形分压电路 | 第50-51页 |
| 4.3 波形采集单元 | 第51-56页 |
| 4.3.1 信号调理电路 | 第51-53页 |
| 4.3.2 ADC采样电路 | 第53-54页 |
| 4.3.3 FPGA电路 | 第54-56页 |
| 4.4 主控单元 | 第56-62页 |
| 4.4.1 核心板资源介绍 | 第57-58页 |
| 4.4.2 USB接口电路 | 第58-59页 |
| 4.4.3 以太网接口电路 | 第59-60页 |
| 4.4.4 LCD驱动电路 | 第60-62页 |
| 4.5 供电系统 | 第62-65页 |
| 4.5.1 电源系统需求分析 | 第62-63页 |
| 4.5.2 电源系统详细设计 | 第63-65页 |
| 4.6 本章小结 | 第65-67页 |
| 第五章 系统软件详细设计 | 第67-89页 |
| 5.1 软件总体设计 | 第67-68页 |
| 5.2 操作系统层软件设计 | 第68-71页 |
| 5.2.1 操作系统启动流程 | 第68-69页 |
| 5.2.2 Bootloader移植 | 第69页 |
| 5.2.3 Linux内核裁剪 | 第69-70页 |
| 5.2.4 根文件系统制作 | 第70-71页 |
| 5.3 硬件驱动层软件设计 | 第71-78页 |
| 5.3.1 FPGA程序 | 第71-75页 |
| 5.3.2 ARM驱动程序 | 第75-78页 |
| 5.4 应用层软件设计 | 第78-87页 |
| 5.4.1 高压调节程序 | 第79页 |
| 5.4.2 数据采集控制程序 | 第79-81页 |
| 5.4.3 测量数据分析程序 | 第81-82页 |
| 5.4.4 人机界面程序 | 第82-87页 |
| 5.5 本章小结 | 第87-89页 |
| 第六章 系统调试与数据分析 | 第89-107页 |
| 6.1 系统硬件调试 | 第89-96页 |
| 6.1.1 高压输出幅值有限 | 第89-90页 |
| 6.1.2 高压耐压不足 | 第90-91页 |
| 6.1.3 分压波形出现尖峰 | 第91-92页 |
| 6.1.4 高速采样精度低 | 第92-94页 |
| 6.1.5 信号完整性问题 | 第94-95页 |
| 6.1.6 电磁兼容性问题 | 第95-96页 |
| 6.2 系统软件调试 | 第96-100页 |
| 6.2.1 搭建NFS系统 | 第96页 |
| 6.2.2 FPGA采样数据跳变 | 第96-97页 |
| 6.2.3 FIFO强放电时复位 | 第97-98页 |
| 6.2.4 误差校准 | 第98-100页 |
| 6.3 测试数据分析 | 第100-105页 |
| 6.3.1 高压输出测试 | 第100-103页 |
| 6.3.2 面积重复性测试 | 第103-104页 |
| 6.3.3 面积差重复性测试 | 第104页 |
| 6.3.4 相位差重复性测试 | 第104-105页 |
| 6.3.5 电感感量与Q值测试 | 第105页 |
| 6.4 本章小结 | 第105-107页 |
| 结束语 | 第107-109页 |
| 致谢 | 第109-111页 |
| 研究生阶段研究成果及发表论文情况 | 第111-113页 |
| 参考文献 | 第113-114页 |
