| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 可靠性基础理论 | 第9-10页 |
| 1.3 单稳态永磁机构结构与工作原理 | 第10-11页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.5 论文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 单稳态永磁机构退磁试验 | 第14-31页 |
| 2.1 单稳态永磁机构退磁试验实现方案 | 第14-15页 |
| 2.2 单稳态永磁机构退磁试验硬件设计 | 第15-21页 |
| 2.2.1 单稳态永磁机构电源设计方案的探讨 | 第15页 |
| 2.2.2 主控模块 | 第15-16页 |
| 2.2.3 电压采集模块 | 第16-19页 |
| 2.2.4 分合闸控制模块 | 第19页 |
| 2.2.5 继电器控制模块 | 第19-20页 |
| 2.2.6 显示模块 | 第20-21页 |
| 2.3 单稳态永磁机构退磁试验软件设计 | 第21-23页 |
| 2.4 单稳态永磁机构退磁试验Ansoft仿真 | 第23-26页 |
| 2.5 单稳态永磁机构退磁试验试验过程及结果分析 | 第26-30页 |
| 2.5.1 试验过程 | 第26-27页 |
| 2.5.2 试验结果及分析 | 第27-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 单稳态永磁机构可靠性试验 | 第31-39页 |
| 3.1 单稳态永磁机构温度试验 | 第31-33页 |
| 3.2 单稳态永磁机构寿命试验 | 第33-34页 |
| 3.3 单稳态永磁机构失效分析 | 第34-38页 |
| 3.3.1 常用失效分析方法 | 第34-35页 |
| 3.3.2 单稳态永磁机构的失效模式与影响分析 | 第35-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 基于威布尔分布的单稳态永磁机构可靠度模型 | 第39-47页 |
| 4.1 威布尔分布模型 | 第39-44页 |
| 4.2 单稳态永磁机构失效数据统计与假设分布检验 | 第44-45页 |
| 4.3 基于威布尔分布的单稳态永磁机构可靠度模型 | 第45-46页 |
| 4.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 5 多因素影响下单稳态永磁机构可靠度预测 | 第47-57页 |
| 5.1 温度对单稳态永磁机构可靠度影响的量化分析 | 第47-49页 |
| 5.1.1 应力—强度分布干涉理论和可靠度计算模型 | 第47-48页 |
| 5.1.2 温度对单稳态永磁机构可靠度的影响 | 第48-49页 |
| 5.2 分闸线圈电流对单稳态永磁机构可靠度影响的量化分析 | 第49-51页 |
| 5.3 多因素影响下单稳态永磁机构可靠度预测 | 第51-56页 |
| 5.3.1 BP神经网络概述 | 第51-53页 |
| 5.3.2 BP神经网络结构的确定 | 第53页 |
| 5.3.3 BP神经网络结构的建模 | 第53-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |