SrTiO3-δ薄膜与WTe2晶体的磁电阻效应研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 绪论 | 第11-18页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·研究现状 | 第11-13页 |
| ·钛酸锶的研究现状 | 第11-12页 |
| ·WTe_2的研究现状 | 第12-13页 |
| ·结构和性质 | 第13-15页 |
| ·钛酸锶的结构和性质 | 第13-14页 |
| ·WTe_2的结构和性质 | 第14-15页 |
| ·磁电阻效应及其应用 | 第15-17页 |
| ·本文主要工作 | 第17-18页 |
| 2 钛酸锶薄膜的制备方法 | 第18-28页 |
| ·钛酸锶薄膜的制备方法 | 第18-21页 |
| ·化学气相沉积法(CVD) | 第18页 |
| ·溶胶-凝胶法(Sol-Gel) | 第18-19页 |
| ·真空蒸镀法 | 第19页 |
| ·磁控溅射法 | 第19-20页 |
| ·脉冲激光沉积技术(PLD) | 第20-21页 |
| ·脉冲激光沉积技术的原理 | 第21-24页 |
| ·实验利用PLD制备钛酸锶薄膜 | 第24-26页 |
| ·基片的选择 | 第24页 |
| ·PLD制备钛酸锶薄膜 | 第24-26页 |
| ·利用磁控溅射仪制备电极 | 第26-28页 |
| 3 样品表征方法 | 第28-32页 |
| ·X射线衍射分析(XRD) | 第28-29页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第29页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第29-30页 |
| ·薄膜厚度的测量 | 第30-31页 |
| ·物性测量综合系统(PPMS) | 第31-32页 |
| 4 钛酸锶薄膜的性质研究 | 第32-42页 |
| ·钛酸锶薄膜的XRD测试 | 第32-34页 |
| ·钛酸锶薄膜的表面形貌测试 | 第34-36页 |
| ·钛酸锶薄膜的膜厚测量 | 第36页 |
| ·钛酸锶薄膜的电磁学性质测量 | 第36-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 5 WTe_2晶体的性质研究 | 第42-50页 |
| ·WTe_2晶体的XRD测试 | 第42-43页 |
| ·WTe_2晶体的的电磁学性质测量 | 第43-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 6 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第54-56页 |
| 学位论文数据集 | 第56页 |
