电磁脉冲弹对电子目标的毁伤效能评估
摘要 | 第1-5页 |
abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·研究课题的背景及意义 | 第9-10页 |
·国内外研究现状 | 第10-12页 |
·电磁脉冲弹核心技术的发展现状 | 第10-11页 |
·电磁脉冲弹毁伤机理及评估发展现状 | 第11-12页 |
·本文主要研究内容 | 第12-13页 |
2 电磁脉冲弹的毁伤机理及目标易损性分析 | 第13-32页 |
·电子目标简述 | 第13-14页 |
·电磁脉冲弹工作机理及脉冲形式 | 第14-19页 |
·电磁脉冲弹的工作机理 | 第14-17页 |
·电磁脉冲辐射波形及特性 | 第17-19页 |
·电磁脉冲弹对电子目标的毁伤分析 | 第19-27页 |
·电磁脉冲弹的辐射区域分析 | 第19-20页 |
·目标处的功率密度分析 | 第20-23页 |
·电磁脉冲对目标的耦合途径分析 | 第23-27页 |
·电磁脉冲对电子目标的易损性分析 | 第27-31页 |
·电磁脉冲对电子目标的毁伤因素 | 第27-29页 |
·电磁脉冲对电子目标的毁伤描述 | 第29-30页 |
·目标的毁伤判据 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
3 模型的建立及仿真算法 | 第32-44页 |
·几何模型的创建 | 第32-38页 |
·典型天线的模型建立 | 第32-35页 |
·传输线等效模型建立 | 第35-36页 |
·电器元件的模型建立 | 第36-38页 |
·电磁脉冲能量传播计算 | 第38-40页 |
·电磁脉冲传播规律 | 第38-39页 |
·电磁脉冲弹的相关参数计算 | 第39-40页 |
·电磁仿真软件的应用 | 第40-43页 |
·FDTD对电磁脉冲下天线的仿真 | 第40-42页 |
·ISE-TCAD对电子元器件的仿真 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
4 电磁脉冲电子目标的毁伤效能研究 | 第44-62页 |
·对典型天线的毁伤效能研究 | 第44-48页 |
·典型天线的耦合模型建立 | 第44页 |
·脉宽对负载电参数的影响分析 | 第44-45页 |
·入射电场强度对负载电参数的影响分析 | 第45-47页 |
·脉宽对毁伤距离的影响 | 第47-48页 |
·对导线负载的毁伤效能研究 | 第48-52页 |
·传输线的耦合模型建立 | 第48-50页 |
·脉宽对传输线耦合电参数的影响 | 第50-51页 |
·入射电场强度对传输线耦合电参数的影响 | 第51-52页 |
·对半导体器件的毁伤效能研究 | 第52-62页 |
·PIN二极管的耦合模型的建立 | 第52-55页 |
·电磁脉冲下的PIN二极管瞬态响应分析 | 第55-57页 |
·电磁脉冲对PIN二极管的毁伤阈值分析 | 第57-62页 |
·本章小结 | 第62页 |
5 综合毁伤效能评估 | 第62-70页 |
·系统毁伤等级划分 | 第62-63页 |
·系统毁伤评估 | 第63-70页 |
·建立指标体系与评估等级 | 第65页 |
·权重系数与指标隶属度 | 第65-67页 |
·综合评判模型 | 第67-70页 |
6 总结 | 第70-72页 |
·工作总结 | 第70页 |
·本文不足之处 | 第70-71页 |
·下一步工作 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |