基于缺陷散射特性的相控阵超声全聚焦成像方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第9-11页 |
| ·课题的研究背景 | 第9-10页 |
| ·课题的研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·相控阵超声技术发展概况 | 第11-12页 |
| ·相控阵超声成像方法研究 | 第12-13页 |
| ·本文主要研究内容及章节安排 | 第13-14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第2章 相控阵超声成像检测基础 | 第15-23页 |
| ·超声成像检测 | 第15-17页 |
| ·超声成像检测原理 | 第15页 |
| ·超声成像检测方法 | 第15-17页 |
| ·相控阵超声检测 | 第17-20页 |
| ·相控阵超声检测原理 | 第17页 |
| ·相控阵超声换能器 | 第17-19页 |
| ·相控阵超声声束的控制 | 第19-20页 |
| ·相控阵阵元的辐射声场 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 相控阵超声在缺陷处的散射特性研究 | 第23-53页 |
| ·有限元仿真模型 | 第23-30页 |
| ·模型建立 | 第23-24页 |
| ·仿真参数的设置 | 第24-28页 |
| ·吸收边界对仿真结果的影响 | 第28-29页 |
| ·缺陷的设置 | 第29-30页 |
| ·相控阵超声与典型缺陷的交互作用 | 第30-51页 |
| ·缺陷全散射信息的提取 | 第30-32页 |
| ·相控阵超声与圆孔缺陷的交互作用 | 第32-40页 |
| ·相控阵超声与裂纹缺陷的交互作用 | 第40-51页 |
| ·缺陷散射特性对相控阵超声成像的影响 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第4章 典型缺陷的相控阵超声全聚焦成像 | 第53-70页 |
| ·全聚焦成像方法 | 第53-55页 |
| ·全矩阵数据 | 第53-54页 |
| ·全聚焦成像算法 | 第54-55页 |
| ·相控阵超声全聚焦成像软件设计 | 第55-59页 |
| ·成像软件构架 | 第56-57页 |
| ·软件设计流程 | 第57-59页 |
| ·典型缺陷的相控阵超声全聚焦成像 | 第59-68页 |
| ·典型缺陷的全聚焦成像 | 第59-62页 |
| ·基于部分散射信息的缺陷识别 | 第62-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第5章 相控阵超声检测全聚焦成像实验研究 | 第70-73页 |
| ·相控阵超声检测实验系统 | 第70-71页 |
| ·相控阵超声全聚焦成像实验验证 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 总结与展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
