| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 绪论 | 第14-28页 |
| 第一章 宇宙线测试平台的工作原理与MRPC技术 | 第28-42页 |
| ·宇宙线测试平台的基本原理 | 第28-31页 |
| ·MRPC的基本工作原理 | 第31-32页 |
| ·MRPC输出信号的特点与MAX3760放大器 | 第32-36页 |
| ·基于NINO芯片与HPTDC的MRPC信号读出方法 | 第36-41页 |
| ·T-A修正与T-TOT修正 | 第36-37页 |
| ·N1NO ASIC芯片 | 第37-39页 |
| ·HPTDC时间测量系统介绍 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第二章 基于LMRPC技术的宇宙线测试平台的研制 | 第42-64页 |
| ·STAR-MTD研制计划 | 第42-43页 |
| ·STAR-MTD LMRPC的基本结构 | 第43-44页 |
| ·STAR-MTD LMRPC批量测试 | 第44-46页 |
| ·基于NINO芯片的MRPC前端电子学性能测试 | 第46-51页 |
| ·基于LMRPC技术宇宙线平台的构建 | 第51-53页 |
| ·LMRPC探测器的性能 | 第53页 |
| ·宇宙线平台的时间分辨 | 第53-57页 |
| ·宇宙线平台的位置分辨 | 第57-59页 |
| ·宇宙线散射实验与角分辨测量 | 第59-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第三章 BESⅢ-ETOF升级计划及宇宙线测试平台搭建 | 第64-78页 |
| ·BESⅢ-ETOF升级计划 | 第64-74页 |
| ·BESⅢ-ETOF升级MRPC探测器结构 | 第65-68页 |
| ·BEPC E3试验束及相关MRPC测试系统 | 第68-69页 |
| ·不同高压下MRPC的性能 | 第69-72页 |
| ·读出条长度与击中位置对MRPC性能的影响 | 第72-73页 |
| ·BESⅢ-ETOF升级MRPC性能测试小结 | 第73-74页 |
| ·BESⅢ-ETOF升级MRPC批量测试 | 第74-78页 |
| ·闪烁体望远镜系统 | 第74-75页 |
| ·HPTDC时钟同步方法 | 第75-78页 |
| 第四章 基于频率扫描干涉法的高精度坐标测量 | 第78-98页 |
| ·SiD硅径迹探测器阵列 | 第78-79页 |
| ·频率扫描干涉法原理 | 第79-81页 |
| ·双激光测量方法 | 第81-83页 |
| ·多通道测量的实现 | 第83-89页 |
| ·基于坐标重建方法的二维及三维测量 | 第89-95页 |
| ·利用Fiber-Launcher对距离测量单元的简化 | 第89-90页 |
| ·二维坐标重建方法及测试结果 | 第90-93页 |
| ·三维坐标重建方法及测试结果 | 第93-95页 |
| ·本章小结 | 第95-98页 |
| 第五章 总结 | 第98-100页 |
| 附录A MTD/MRPC探测器制作工艺 | 第100-106页 |
| 附录B MRPC数据相关处理程序 | 第106-114页 |
| 附录C 频率扫描干涉法相关数据处理程序 | 第114-122页 |
| 参考文献 | 第122-130页 |
| 致谢 | 第130-132页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第132页 |
