摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
目录 | 第9-11页 |
插图索引 | 第11-12页 |
第一章 快电子能量损失谱实验方法 | 第12-20页 |
·快电子能量损失谱方法简介 | 第12-15页 |
·光学振子强度、广义振子强度和微分散射截面 | 第15-17页 |
·广义振子强度的测量和绝对化方法 | 第17-20页 |
第二章 相对流量技术及其在Xe原子广义振子强度测量中的应用 | 第20-30页 |
·相对流量技术的背景 | 第20-21页 |
·相对流量技术的理论基础和混合供气装置 | 第21-25页 |
·理论基础 | 第21-24页 |
·混合供气装置 | 第24-25页 |
·氙原子6s激发研究 | 第25-28页 |
·实验条件及测量过程 | 第26页 |
·结果与讨论 | 第26-28页 |
·小结 | 第28-30页 |
第三章 超高分辨快电子能量损失谱仪的设计 | 第30-48页 |
·电子枪 | 第31-36页 |
·电子枪的光学设计和模拟 | 第32-34页 |
·电子枪的机械设计和装配 | 第34-36页 |
·串列型单色器 | 第36-41页 |
·单色器的设计和模拟 | 第36-39页 |
·单色器的机械设计和装配 | 第39-41页 |
·加速透镜及偏转装置 | 第41-46页 |
·加速透镜的设计和模拟 | 第41-44页 |
·加速透镜的机械设计和装配 | 第44-46页 |
·高精度电子能量损失谱的其它部分 | 第46页 |
·小结 | 第46-48页 |
总结和展望 | 第48-50页 |
参考文献 | 第50-52页 |
致谢 | 第52-54页 |
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第54页 |