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闪烁体厚度对X射线成像探测器成像质量影响的研究

致谢第1-7页
摘要第7-8页
Abstract第8-12页
第1章 绪论第12-27页
   ·同步辐射概述第12-17页
     ·同步辐射原理第12页
     ·同步辐射光源的特性第12-13页
     ·同步辐射光源的发展第13-16页
     ·上海同步辐射光源第16-17页
   ·X 射线成像概述第17-26页
   ·论文的研究内容和意义第26-27页
第2章 上海光源 X 射线成像探测器第27-37页
   ·X 射线成像探测器简介第27-31页
     ·直接式成像探测器第27-29页
     ·间接式成像探测器第29页
     ·透镜耦合成像探测器第29-31页
   ·闪烁体简介第31-37页
     ·闪烁体的发光原理第31-33页
     ·闪烁体的基本特性第33-37页
第3章 闪烁体厚度对 X 射线成像探测器成像质量影响的研究第37-49页
   ·理论计算模拟第38-40页
   ·实验及结果分析第40-47页
     ·实验装置及设备第40-41页
     ·实验参数(光子能量)选择第41-42页
     ·实验方案及流程第42-43页
     ·数据处理和分析第43-47页
   ·实验结果与理论计算对比第47-48页
   ·小结第48-49页
第4章 用真实样品验证最佳闪烁体匹配厚度的实验研究第49-55页
   ·实验方案及流程第49-50页
   ·实验结果和分析第50-54页
     ·10 倍镜头、不同闪烁体厚度情况下的成像结果分析第50-51页
     ·2 倍镜头、不同闪烁体厚度情况下的成像结果分析第51-53页
     ·20 倍镜头、不同闪烁体厚度情况下的成像结果分析第53-54页
   ·小结第54-55页
第5章 总结与展望第55-56页
参考文献第56-59页
攻读学位期间发表论文第59页

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