组合材料芯片技术在钛合金研究中的应用
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-32页 |
| ·组合材料芯片技术概述 | 第11-20页 |
| ·组合材料芯片的制备 | 第12-16页 |
| ·材料芯片的设计 | 第12-15页 |
| ·材料芯片的物理实现 | 第15-16页 |
| ·组合材料芯片的处理 | 第16页 |
| ·组合材料芯片的表征 | 第16-19页 |
| ·结构表征系统 | 第16-18页 |
| ·成分分析表征系统 | 第18页 |
| ·力学性能表征系统 | 第18-19页 |
| ·目标材料的优化 | 第19页 |
| ·目标材料的放大 | 第19-20页 |
| ·实验选择的合金元素对钛合金相变和力学性能的影响 | 第20-22页 |
| ·组合方法在钛合金相变和力学性能研究中的应用 | 第22-31页 |
| ·Ti-Al系 | 第22-23页 |
| ·Ti-V系 | 第23-24页 |
| ·Ti-Mo系 | 第24-26页 |
| ·Ti-Ta系 | 第26-27页 |
| ·Ti-Al-V系 | 第27-28页 |
| ·Ti-Cr-Zr系 | 第28-29页 |
| ·Ti-Cr-Al系 | 第29-30页 |
| ·Ti-Nb-Zr-Ta系 | 第30-31页 |
| ·本论文研究内容与目的 | 第31-32页 |
| 第2章 实验材料与实验方法 | 第32-46页 |
| ·实验材料与设备 | 第32-41页 |
| ·离子束材料芯片沉积系统简介及实验参数 | 第32-36页 |
| ·靶材与基片的选择 | 第36-37页 |
| ·样品库合金化设备 | 第37-38页 |
| ·材料芯片表征设备 | 第38-41页 |
| ·X射线衍射仪器 | 第38-39页 |
| ·X射线光电子能谱仪(XPS) | 第39-40页 |
| ·纳米压痕仪 | 第40页 |
| ·原子力显微镜 | 第40页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第40-41页 |
| ·样品库的设计与制备 | 第41-44页 |
| ·Ti-Al-V系 | 第41-42页 |
| ·Ti-Al-V-Cr-Mo(Ⅰ)系 | 第42-43页 |
| ·Ti-Al-V-Cr-Mo(Ⅱ)系 | 第43-44页 |
| ·样品库合金化工艺的探索 | 第44-46页 |
| 第3章 实验结果分析与讨论 | 第46-59页 |
| ·样品库合金化测试 | 第46-47页 |
| ·样品库的表征 | 第47-56页 |
| ·样品库成分测试 | 第47-49页 |
| ·样品库形貌观察 | 第49-52页 |
| ·样品库中相分析 | 第52-55页 |
| ·样品库力学性能测试 | 第55-56页 |
| ·Mo当量对样品相变的影响 | 第56-59页 |
| 第4章 结论与展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第68页 |
