漆包线耐电晕测试仪的试制和试验数据分析
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 导论 | 第7-11页 |
| ·漆包线耐电晕测试仪的研究背景 | 第7-8页 |
| ·漆包线耐电晕测试仪的研究现状及意义 | 第8-9页 |
| ·数据分析技术概述 | 第9页 |
| ·本文主要研究内容 | 第9-10页 |
| ·本文结构安排 | 第10-11页 |
| 第二章 脉冲宽度调制理论及绝缘材料击穿机理 | 第11-19页 |
| ·PWM 变频调速技术的基础理论 | 第11-15页 |
| ·PWM 脉冲宽度调制的基本原理 | 第11页 |
| ·PWM 脉冲宽度调制的具体实现过程 | 第11-14页 |
| ·PWM 脉冲宽度调制的优点和 SPWM | 第14-15页 |
| ·绝缘材料绝缘耐压强度分析 | 第15-18页 |
| ·电荷的传输与注入 | 第15-16页 |
| ·绝缘材料的绝缘原理 | 第16页 |
| ·绝缘材料的绝缘耐压强度 | 第16-17页 |
| ·常用的绝缘材料的性能 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 H 桥电路及其在耐电晕测试仪中的应用 | 第19-37页 |
| ·H 桥电路 | 第19-21页 |
| ·H 桥电路的基础理论 | 第19-20页 |
| ·H 桥电路的实现方法和控制模式 | 第20-21页 |
| ·IGBT 相关理论 | 第21-26页 |
| ·IGBT 的基本组成结构 | 第21-22页 |
| ·IGBT 的工作原理 | 第22-23页 |
| ·IGBT 的工作特性 | 第23-24页 |
| ·IGBT 模块的选择和保护 | 第24-26页 |
| ·H 桥电路中使用 IGBT 的串联均压技术 | 第26-29页 |
| ·IGBT 串联技术概述 | 第26页 |
| ·IGBT 串联不均压的原因 | 第26-27页 |
| ·IGBT 串联均压技术的研究 | 第27-29页 |
| ·变频电机用漆包线耐电晕测试 | 第29-31页 |
| ·变频电机用漆包线破坏机理 | 第29-30页 |
| ·漆包线耐电晕测试技术 | 第30-31页 |
| ·在耐电晕测试仪中使用 IGBT 的 H 桥电路 | 第31-34页 |
| ·耐电晕测试仪中基本的电路设计 | 第31-32页 |
| ·耐电晕测试仪中的保护电路 | 第32-33页 |
| ·IGBT 串联技术在耐电晕测试仪上的应用 | 第33-34页 |
| ·试验结果 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 耐电晕测试仪软件部分设计与实现 | 第37-51页 |
| ·软件设计开发环境和开发工具 | 第37-38页 |
| ·软件部分的设计与实现 | 第38-49页 |
| ·主控程序设计 | 第38-41页 |
| ·数据库设计 | 第41-42页 |
| ·记录、查看数据模块设计 | 第42-44页 |
| ·电晕时间模块设计 | 第44-47页 |
| ·程序运行过程 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 耐电晕测试仪试验结果和数据分析 | 第51-65页 |
| ·漆包线耐电晕测试仪稳定性测试 | 第51-52页 |
| ·漆包线耐电晕测试试验 | 第52-54页 |
| ·耐电晕测试试验准备 | 第52页 |
| ·耐电晕测试试验 | 第52-54页 |
| ·测试试验结果和革新过程操作 | 第54-57页 |
| ·耐电晕测试试验结果 | 第54-55页 |
| ·革新过程操作 | 第55-57页 |
| ·漆包线耐电晕测试数据分析 | 第57-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结和展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65-66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
