基于微元间辐射平衡的发射光谱层析研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·光学层析技术国内外研究现状和进展 | 第10-11页 |
| ·辐射测温技术国内外研究进展及趋势 | 第11-13页 |
| ·本文的研究背景、目的及主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 单光谱层析技术研究 | 第15-27页 |
| ·单光谱层析(SST)相关技术研究 | 第15-22页 |
| ·介质中的普朗克定律 | 第15-16页 |
| ·介质的辐射传输特性 | 第16-19页 |
| ·发射光谱层析(EST)技术研究 | 第19页 |
| ·发射光谱层析算法简介 | 第19-22页 |
| ·单光谱层析技术应用 | 第22-24页 |
| ·单光谱层析技术投影数据的获取 | 第22页 |
| ·成像光学系统的辐射度学原理 | 第22-24页 |
| ·单光谱层析技术特点 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 截面温度场重建模型的建立 | 第27-33页 |
| ·物理模型的建立 | 第27-29页 |
| ·流场的辐射传输特性 | 第27-28页 |
| ·流场截面重建物理模型 | 第28-29页 |
| ·温度场的求解 | 第29-32页 |
| ·吸收系数的确定 | 第29-30页 |
| ·重建算法介绍 | 第30-31页 |
| ·温度场的求解过程 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 重建模型的仿真验证 | 第33-49页 |
| ·重建模型的验证设计方案 | 第33-38页 |
| ·不同因素对重建结果的影响分析 | 第38-48页 |
| ·不同投影方向数对重建精度的影响 | 第38-39页 |
| ·每方向采样数对重建精度的影响 | 第39-40页 |
| ·不同分辨率对重建精度的影响 | 第40-41页 |
| ·不同松弛因子对重建精度的影响 | 第41-42页 |
| ·CCD位置对重建精度的影响 | 第42-45页 |
| ·结论 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 火焰温度场重建 | 第49-69页 |
| ·采集平台的设计 | 第49-56页 |
| ·采集平台硬件设计及实现 | 第49-54页 |
| ·采集平台的软件实现 | 第54-56页 |
| ·投影辐射强度的定标 | 第56-60页 |
| ·吸收系数的定标 | 第60-68页 |
| ·实验标定吸收率 | 第60-64页 |
| ·阿贝尔变换介绍 | 第64-65页 |
| ·用阿贝尔逆变换求解吸收系数 | 第65-68页 |
| ·重建结果 | 第68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 攻读硕士学位期间作者发表的论文 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
