| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-29页 |
| 1．1 随机粗糙表面的统计描述以及光散射基本理论 | 第8-19页 |
| 1．2 随机表面光散射散斑场的相位涡旋 | 第19-29页 |
| 第二章 用Ar~+离子激光器测量随机散射屏的粗糙指数 | 第29-43页 |
| 2．1 引言 | 第29-30页 |
| 2．2 理论分析 | 第30-35页 |
| 2．3 实验测量及结果分析 | 第35-40页 |
| 2．4 结论 | 第40-42页 |
| 参考文献 | 第42-43页 |
| 第三章 利用相位恢复技术从散射光场的中心亮点中提取表面高度概率分布 | 第43-52页 |
| 3．1 引言 | 第43-44页 |
| 3．2 散射理论分析 | 第44-47页 |
| 3．3 中心点光场的相位恢复 | 第47-48页 |
| 3．4 散射场中心亮点光场的实验测量 | 第48-50页 |
| 3．5 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 第四章 高斯相关随机表面相位概率的数值模拟分析 | 第52-62页 |
| 4．1 引言 | 第52-53页 |
| 4．2 高斯中关随机表面及其散斑场的模拟产生 | 第53-55页 |
| 4．3 散斑场相位的概率密度分析 | 第55-60页 |
| 4．4 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-62页 |
| 第五章 高斯相关随机表面光散射散斑场的相位涡旋分析 | 第62-74页 |
| 5．1 引言 | 第62-63页 |
| 5．2 高斯相关随机表面光散射散斑场及相位涡旋的模拟产生 | 第63-64页 |
| 5．3 高斯相关随机表面光散射散斑场的相位涡旋分析 | 第64-70页 |
| 5．4 结论 | 第70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致 谢 | 第74页 |
