| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 上篇 GD-GE-SB三元系合金相图773K等温截面 | 第11-32页 |
| 第一章 前言 | 第11-22页 |
| ·相图和相图应用 | 第11页 |
| ·相图的测定 | 第11-12页 |
| ·试样的制备 | 第12-14页 |
| ·配料和熔炼 | 第12-13页 |
| ·合金试样的均匀化处理 | 第13页 |
| ·淬冷技术 | 第13-14页 |
| ·物相分析技术 | 第14-19页 |
| ·X射线衍射法 | 第14-16页 |
| ·差热分析法(DTA) | 第16-17页 |
| ·金相分析法 | 第17页 |
| ·电子显微分析 | 第17-19页 |
| ·相界的测定 | 第19-20页 |
| ·相消失法 | 第19页 |
| ·点阵常数法 | 第19-20页 |
| ·关于PDF卡片 | 第20-22页 |
| 第二章 GD-GE-SB三元合金系773K等温截面 | 第22-30页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·历史资料 | 第22-26页 |
| ·GD-GE二元系 | 第22页 |
| ·GD-SB二元系 | 第22-24页 |
| ·GE-SB二元系 | 第24-25页 |
| ·GD-GE-SB三元系 | 第25-26页 |
| ·实验方法 | 第26-27页 |
| ·配料以及所用设备 | 第26页 |
| ·实验过程 | 第26-27页 |
| ·实验结果和讨论 | 第27-29页 |
| ·二元相分析 | 第27-28页 |
| ·GD-GE-SB三元合金系773K等温截面 | 第28-29页 |
| ·小结: | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-32页 |
| 下篇 CUSB_2TI_5的晶体结构和热膨胀性能 | 第32-57页 |
| 第一章 前言 | 第32-47页 |
| ·测定物质晶体结构的意义及进展 | 第32-33页 |
| ·新相结构的测定 | 第33-40页 |
| ·未知晶体结构的新相所具有的衍射线的确定 | 第33页 |
| ·X射线粉末衍射谱的指标化 | 第33-38页 |
| ·晶体点阵常数的精确测定 | 第38-40页 |
| ·RIETVELD方法全谱图拟合修正晶体结构 | 第40-42页 |
| ·晶体结构测定的经验方法 | 第42-43页 |
| ·同构型法 | 第42-43页 |
| ·傅立叶差值法 | 第43页 |
| ·尝试法 | 第43页 |
| ·热膨胀性能及实验方法 | 第43-47页 |
| ·物质的热膨胀性能 | 第44页 |
| ·热膨胀系数的定义 | 第44-45页 |
| ·热膨胀的定性解释 | 第45页 |
| ·X射线热膨胀测定法 | 第45-47页 |
| 第二章 CUSB_2TI_5的晶体结构的测定 | 第47-54页 |
| ·前言 | 第47页 |
| ·实验方法 | 第47-48页 |
| ·试样制备 | 第47页 |
| ·晶体结构 | 第47页 |
| ·热膨胀 | 第47-48页 |
| ·实验结果与讨论 | 第48-53页 |
| ·晶体结构 | 第48-49页 |
| ·热膨胀性能 | 第49-53页 |
| ·结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 附图 | 第57-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读学位期间发表论文情况 | 第65页 |