摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
·光谱仪的研究现状 | 第9-11页 |
·分光系统的发展动态 | 第10页 |
·光探测器在光谱分析系统中的应用 | 第10-11页 |
·快速光谱分析系统简介和研究意义 | 第11-12页 |
·系统简介 | 第11页 |
·研究的目的和意义 | 第11-12页 |
·本课题任务及结构安排 | 第12-13页 |
·系统性能指标 | 第13-14页 |
第二章 光路系统工作原理及设计 | 第14-31页 |
·标准光源 | 第14-15页 |
·分光法测量参数原理 | 第15-21页 |
·色度坐标的计算 | 第15-16页 |
·主波长、色纯度及峰值波长的计算 | 第16-17页 |
·相关色温计算 | 第17-19页 |
·光源显色性的测定 | 第19-21页 |
·CCD探测器 | 第21-22页 |
·SSPD探测器 | 第22-28页 |
·电荷存贮工作方式 | 第22-24页 |
·SSPD线列阵 | 第24-25页 |
·线阵恒温制冷SSPD | 第25页 |
·SSPD信号处理电路 | 第25-28页 |
·分光系统及其分辨率 | 第28-30页 |
·分光系统原理 | 第28-30页 |
·分光系统分辨率 | 第30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第三章 硬件系统及固件程序设计 | 第31-51页 |
·USB2.0的主要特点 | 第32-34页 |
·数据包 | 第32-33页 |
·帧结构 | 第33-34页 |
·数据传输方式 | 第34页 |
·CY7C68013芯片和16位ADS8401 | 第34-38页 |
·CY7C68013芯片 | 第34-36页 |
·16位ADS8401 | 第36-38页 |
·信号选择电路 | 第38-39页 |
·SSPD内部温度测量和制冷控制电路 | 第39-41页 |
·色盘复位装置 | 第41页 |
·电机驱动电路 | 第41-43页 |
·固件加载 | 第43-44页 |
·本系统地线 | 第44-45页 |
·固件程序设计 | 第45-50页 |
·本系统设备描述符 | 第45页 |
·固件程序流程 | 第45-47页 |
·main()函数和DR_VendorCmnd()函数 | 第47页 |
·GPIF波形设计 | 第47-50页 |
·信号采集和传送 | 第50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第四章 上位机软件设计 | 第51-58页 |
·软件整体介绍 | 第51-52页 |
·通信与控制 | 第52-54页 |
·系统状态控制 | 第53页 |
·数据传送与接收 | 第53页 |
·色盘轮转控制和光谱扫描 | 第53-54页 |
·数据处理 | 第54-57页 |
·消除噪声 | 第54-55页 |
·波长插值处理 | 第55页 |
·自适应照度积分法 | 第55-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第五章 波长校正及光谱响应定标 | 第58-62页 |
·波长校正 | 第58-60页 |
·光谱响应定标 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第六章 不确定度仿真及性能分析 | 第62-72页 |
·影响测量不确定度的因素 | 第62页 |
·不确定度分析方法 | 第62-63页 |
·LED仿真模型 | 第63-64页 |
·颜色不确定度仿真分析 | 第64-68页 |
·光谱功率分布不确定度的影响 | 第64-65页 |
·波长不确定度的影响 | 第65-66页 |
·实测结果分析 | 第66-68页 |
·测量的可重复性分析 | 第68-69页 |
·系统信号线性(linearity)评定 | 第69-70页 |
·线性度评定 | 第69-70页 |
·改进的信号处理电路 | 第70页 |
·本章小结 | 第70-72页 |
第七章 总结与展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第78页 |