| 摘要 | 第1-13页 |
| ABSTRACT | 第13-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| ·课题的研究背景 | 第14-15页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第15页 |
| ·论文的结构 | 第15-16页 |
| ·本论文的研究成果 | 第16-18页 |
| 第二章 内建自测试综述 | 第18-31页 |
| ·内建自测试在现代芯片测试中的地位和作用 | 第18页 |
| ·结构自测试相关理论和方法 | 第18-26页 |
| ·故障和故障模型 | 第19-21页 |
| ·测试码的生成与测试响应的压缩 | 第21-25页 |
| ·结构自测试电路的一般结构 | 第25-26页 |
| ·RAM自测试相关理论和方法 | 第26-29页 |
| ·RAM的故障模型 | 第26-27页 |
| ·RAM自测试算法 | 第27-29页 |
| ·微处理器中的内建自测试系统 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 X微处理器内建自测试系统的总体设计 | 第31-37页 |
| ·X微处理器的结构与测试目标 | 第31-32页 |
| ·芯片结构简介 | 第31-32页 |
| ·测试要求与测试目标 | 第32页 |
| ·X微处理器内建自测试的总体设计 | 第32-36页 |
| ·X微处理器内建自测试的设计目标 | 第32-33页 |
| ·X微处理器内建自测试的设计划分及其过程 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 X微处理器结构自测试的设计 | 第37-59页 |
| ·结构自测试的组成及其总体控制结构 | 第37-42页 |
| ·结构自测试的组成及其总体结构 | 第37-38页 |
| ·结构自测试的启动和控制机制 | 第38-39页 |
| ·结构自测试的结果形成机制 | 第39-41页 |
| ·结构自测试向微码程序自测试的过渡 | 第41-42页 |
| ·X微处理器指令流通路的自测试设计 | 第42-49页 |
| ·指令Cache→指令预取→指令译码逻辑简介 | 第42页 |
| ·伪随机测试指令的自动生成 | 第42-44页 |
| ·指令特征位生成电路的设计 | 第44-45页 |
| ·移位控制模块的定制 | 第45-46页 |
| ·响应压缩点的选取及特征值响应压缩器的设计 | 第46-49页 |
| ·微码ROM自测试的设计 | 第49-52页 |
| ·微码ROM的顺序地址生成 | 第50-51页 |
| ·微码码点响应压缩电路的设计 | 第51-52页 |
| ·浮点部件商预测电路的自测试设计 | 第52-55页 |
| ·伪随机测试向量的生成 | 第53-54页 |
| ·商信息压缩电路的设计 | 第54-55页 |
| ·用于任务切换微码寻址电路的自测试设计 | 第55-58页 |
| ·线性反馈移位寄存器的设计 | 第55-56页 |
| ·寻址电路的响应压缩结构 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 X微处理器微码程序自测试的设计 | 第59-88页 |
| ·微码程序自测试所依赖的处理器结构特征 | 第59-65页 |
| ·Cache及其测试寄存器 | 第59-62页 |
| ·TLB及其测试寄存器 | 第62-63页 |
| ·BTB及其测试寄存器 | 第63-65页 |
| ·数据Cache和指令Cache的自测试设计 | 第65-71页 |
| ·数据Cache和指令Cache的测试要素及算法 | 第65-66页 |
| ·数据Cache的和指令Cache的测试过程及其测试通路的选择 | 第66-69页 |
| ·数据Cache和指令Cache的读写比较过程及其结果的形成 | 第69-71页 |
| ·TLB部件的自测试设计 | 第71-77页 |
| ·TLB部件的测试要素及其算法 | 第71-72页 |
| ·TLB部件的测试过程及其测试通路的选择 | 第72-75页 |
| ·TLB的读写比较过程及其结果的形成 | 第75-77页 |
| ·BTB部件的自测试设计 | 第77-81页 |
| ·BTB部件的测试要素及其算法 | 第77-78页 |
| ·BTB部件的测试过程及其测试通路的选择 | 第78-79页 |
| ·BTB的读写比较过程及其结果的形成 | 第79-81页 |
| ·段描述符Cache的自测试设计 | 第81-85页 |
| ·段描述符Cache的测试要素及其算法 | 第81-82页 |
| ·段描述符Cache的测试过程及其测试通路的选择 | 第82-84页 |
| ·段描述符Cache的读写比较过程及其结果的形成 | 第84-85页 |
| ·常量rom的自测试设计 | 第85-86页 |
| ·执行部件的自测试设计 | 第86-87页 |
| ·多媒体扩展和浮点部件的自测试 | 第86-87页 |
| ·整数部件的自测试 | 第87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 第六章 X微处理器内建自测试的使用 | 第88-92页 |
| ·内建自测试的启动 | 第88页 |
| ·相关的调测试结构 | 第88-90页 |
| ·自测试结果的读出和诊断 | 第90-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 第七章 结束语 | 第92-93页 |
| ·全文工作总结 | 第92页 |
| ·未来工作展望 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-97页 |