摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-4页 |
缩写编号以及符号对应表 | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-22页 |
·前言 | 第7页 |
·TFT LCD 工作原理 | 第7-10页 |
·关于残像发生原因的理论介绍 | 第10-21页 |
·残像发生的原因 | 第10-11页 |
·液晶盒内离子的来源 | 第11-12页 |
·离子横向移动模型介绍 | 第12-14页 |
·盒内离子吸附模型介绍 | 第14-17页 |
·设计方式对LCD 盒内DC的影响 | 第17-21页 |
·研究思路及实验目的 | 第21-22页 |
第二章 影像残留现象的观察 | 第22-28页 |
·实验说明 | 第22页 |
·实验构成以及步骤 | 第22-24页 |
·结果与讨论 | 第24-28页 |
第三章 影像残留的Level 评价 | 第28-37页 |
·实验说明 | 第28-29页 |
·实验构成以及步骤 | 第29-30页 |
·结果与讨论 | 第30-37页 |
第四章 TFT LCD Design对影像残留的观察与研究 | 第37-43页 |
·实验说明 | 第37-38页 |
·实验构成以及步骤 | 第38-42页 |
·结果与讨论 | 第42-43页 |
第五章 LCD 内离子吸收与释放过程的研究 | 第43-47页 |
·实验介绍 | 第43-44页 |
·实验结果及数据分析 | 第44-46页 |
·结论与讨论 | 第46-47页 |
第六章 结论 | 第47-48页 |
参考文献 | 第48-50页 |
附录一 | 第50-51页 |
附录二 | 第51-52页 |
致谢 | 第52页 |