| 第1章 绪论 | 第1-18页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·电介质陶瓷的分类 | 第10页 |
| ·微波介质陶瓷 | 第10-15页 |
| ·微波介质陶瓷的主要性能要求 | 第11-12页 |
| ·微波介质陶瓷的研究现状 | 第12-14页 |
| ·微波介质陶瓷的分类 | 第14-15页 |
| ·研究的目的和主要内容 | 第15-18页 |
| 第2章 材料的制备与研究方法 | 第18-27页 |
| ·材料的设计 | 第18-20页 |
| ·容限因子 | 第18-19页 |
| ·电负性 | 第19-20页 |
| ·实验原料及设备 | 第20-21页 |
| ·材料的制各工艺过程 | 第21-24页 |
| ·配料计算 | 第21-22页 |
| ·备料工艺 | 第22-23页 |
| ·干压成型 | 第23页 |
| ·烧结 | 第23-24页 |
| ·表面处理 | 第24页 |
| ·材料的研究方法 | 第24-27页 |
| ·密度测量 | 第24页 |
| ·X射线衍射分析(XRD) | 第24-25页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第25页 |
| ·低频介电性能测试 | 第25-26页 |
| ·微波介电性能测试 | 第26-27页 |
| 第3章 (Ba,Sr)_6TiNb_4O_(18)体系陶瓷 | 第27-44页 |
| ·烧结性能分析 | 第27-29页 |
| ·XRD物相分析 | 第29-31页 |
| ·Ba_6TiNb_4O_18的XRD分析 | 第29-30页 |
| ·Ba_(6-x)Sr_xTiNb_4O_(18)体系的XRD简析 | 第30-31页 |
| ·SEM显微结构分析 | 第31-32页 |
| ·低频介电性能研究 | 第32-38页 |
| ·电介质极化原理 | 第32-34页 |
| ·介电损耗 | 第34-35页 |
| ·Ba_(6-x)Sr_xTiNb_4O_(18)的低频介电性能 | 第35-38页 |
| ·微波介电性能 | 第38-44页 |
| ·介电常数 | 第38-39页 |
| ·品质因子 | 第39-40页 |
| ·谐振频度温度系数 | 第40-41页 |
| ·计算值与测试值的比较 | 第41-42页 |
| ·介电性能的初步分析 | 第42-44页 |
| 第4章 材料的改性研究 | 第44-59页 |
| ·A_nB_(n-1)O_(3n)系列 | 第44-46页 |
| ·Ba_(6-x)Sr_xSnNb_4O_(18)系列 | 第46-52页 |
| ·烧结性能 | 第46-47页 |
| ·XRD分析 | 第47-49页 |
| ·SEM形貌分析 | 第49-50页 |
| ·微波介电性能 | 第50-52页 |
| ·其它A_6B_5O_(18)系列 | 第52-56页 |
| ·A位La取代 | 第53-54页 |
| ·A位Nd取代 | 第54页 |
| ·B位Ta取代 | 第54-55页 |
| ·A位、B位复合取代 | 第55-56页 |
| ·烧结制度对微波介电性能的影响 | 第56-59页 |
| ·对介电常数的影响 | 第56页 |
| ·对品质因子的影响 | 第56-57页 |
| ·对谐振频度温度系数的影响 | 第57-59页 |
| 第5章 结论与展望 | 第59-62页 |
| ·结论 | 第59-60页 |
| ·展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附：作者在攻读硕士期间已发表的论文 | 第67页 |
