三维尺寸标注中若干关键技术的研究及其实现
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-18页 |
·课题研究的意义 | 第9-11页 |
·相关研究现状 | 第11-13页 |
·本文的工作 | 第13-18页 |
·选择开发平台 | 第13-17页 |
·本文主要研究内容 | 第17-18页 |
第2章 基元体约束与尺寸的关系 | 第18-27页 |
·基元体本身的定形约束 | 第18-23页 |
·基元体约束与定形尺寸 | 第18-19页 |
·MDT中基本形体的识别 | 第19-23页 |
·基元体之间的定位约束 | 第23-27页 |
·零件自由度 | 第23-24页 |
·六点定位原则与面接触 | 第24-26页 |
·自然定位尺寸与实际定位尺寸 | 第26-27页 |
第3章 基于约束求解的三维尺寸生成技术 | 第27-37页 |
·确定尺寸基准 | 第27-29页 |
·尺寸基准的概念 | 第27页 |
·常用基准要素与基准选择的一般原则 | 第27-28页 |
·MDT中尺寸基准选择 | 第28-29页 |
·基元体约束的求解 | 第29-31页 |
·零件自由度约束的求解 | 第31-34页 |
·生成自然定位尺寸 | 第31-33页 |
·生成实际定位尺寸 | 第33-34页 |
·生成总体尺寸 | 第34页 |
·MDT中三维尺寸显示技术 | 第34-37页 |
·创建工作平面 | 第34-35页 |
·三维尺寸显示的基本思路 | 第35页 |
·尺寸显示函数 | 第35-37页 |
第4章 三维环境下尺寸调整及其投影技术 | 第37-53页 |
·尺寸调整的内容及其技术基础 | 第37-39页 |
·尺寸调整的要求及调整对象 | 第37-38页 |
·尺寸调整的技术基础 | 第38-39页 |
·三维环境下的尺寸调整 | 第39-43页 |
·过渡特征尺寸 | 第39-40页 |
·分布特征尺寸 | 第40页 |
·对称特征尺寸 | 第40页 |
·消失尺寸 | 第40-41页 |
·重复尺寸 | 第41-42页 |
·封闭尺寸链 | 第42-43页 |
·三维尺寸的投影 | 第43-49页 |
·尺寸关联语义 | 第43-45页 |
·加权决策模型 | 第45-46页 |
·选择投影视图 | 第46-47页 |
·选择投影区域 | 第47-49页 |
·MDT中尺寸调整与投影的实现 | 第49-53页 |
第5章 应用实例 | 第53-63页 |
·原型系统描述 | 第53-54页 |
·标注实例 | 第54-63页 |
第6章 总结与展望 | 第63-65页 |
·总结 | 第63-64页 |
·展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
附录:硕士期间发表的论文及参加项目 | 第70页 |