纳米级Cr薄层对PtMn/NiFe钉扎薄膜显微结构影响的电镜观察
| 第一章 前言 | 第1-16页 |
| ·自旋阀的发展历史和现状 | 第6-11页 |
| ·对自旋阀显微结构的研究 | 第11-14页 |
| ·本论文工作的目的及意义 | 第14-16页 |
| 第二章 基础理论 | 第16-36页 |
| ·PtMn/NiFe的结构 | 第16-17页 |
| ·透射电子显微镜的原理 | 第17-25页 |
| ·透射电子显微镜的构造 | 第17-19页 |
| ·透射电子显微镜的基本原理 | 第19-23页 |
| ·CM200场发射枪透射电镜及能量过滤成像系统 | 第23-25页 |
| ·透射电子显微镜的实验方法 | 第25-36页 |
| ·电子衍射 | 第25-30页 |
| ·衍衬技术 | 第30-31页 |
| ·高分辨电子显微术 | 第31-36页 |
| 第三章 实验与方法 | 第36-43页 |
| ·薄膜样品制备 | 第36-40页 |
| ·磁控溅射沉积方法 | 第37-39页 |
| ·薄膜样品制备过程 | 第39-40页 |
| ·电镜观察样品的制备 | 第40-42页 |
| ·电镜样品的种类及特点 | 第40-41页 |
| ·截面TEM样品的制备过程 | 第41-42页 |
| ·使用的电镜及电子显微学方法 | 第42-43页 |
| 第四章 实验结果及讨论 | 第43-66页 |
| ·样品的TEM观测 | 第43-49页 |
| ·平面电镜样品的TEM观测 | 第43-45页 |
| ·截面电镜样品的TEM观测 | 第45-49页 |
| ·样品的XRD分析 | 第49-51页 |
| ·样品的高分辨观察 | 第51-61页 |
| ·1#样品的高分辨 | 第51-54页 |
| ·2#样品的高分辨 | 第54-61页 |
| ·样品晶格常数分析 | 第61-66页 |
| 第五章 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-73页 |
| 攻读硕士发表的论文 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 摘要 | 第75-78页 |
