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低维功能氧化物材料的透射电子显微学研究

摘要第1-3页
Abstract第3-6页
引言第6-7页
第一章 文献综述第7-21页
   ·钙钛矿型锰氧化物的基本物理性质第7-10页
     ·钙钛矿型锰氧化物的早期研究第7页
     ·晶体结构第7-8页
     ·晶格畸变第8-9页
     ·电子结构第9-10页
   ·钙钛矿型锰氧化物薄膜的研究第10-12页
     ·外延薄膜中的应力第11-12页
     ·外延薄膜的厚度效应第12页
   ·电荷有序行为的研究第12-18页
     ·外延薄膜中的电荷有序第13-16页
     ·电荷有序相的电子显微学观察第16-18页
   ·电镜样品的制备第18-20页
   ·本课题研究的内容和意义第20-21页
第二章 Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜的微观结构演变第21-29页
   ·研究背景第21页
   ·实验方法第21-22页
   ·结果与讨论第22-28页
     ·Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜表面形貌演变第22-25页
     ·Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜的应力状态第25-28页
   ·小结第28-29页
第三章 Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜与衬底界面处的微观结构缺陷第29-36页
   ·研究背景第29页
   ·实验方法第29-30页
   ·结果与讨论第30-35页
     ·Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜的取向关系第30-31页
     ·Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜的表面粗糙度第31页
     ·Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3/SrTiO_3界面缺陷第31-35页
   ·小结第35-36页
第四章 Bi_(0.4)Ca_(0.6)MnO_3外延薄膜的电荷有序行为演变第36-45页
   ·研究背景第36页
   ·实验方法第36-37页
   ·结果与讨论第37-44页
     ·厚度小于100nm薄膜的电荷有序行为第37-38页
     ·厚度为110nm薄膜的电荷有序行为第38-42页
     ·厚度为200nm薄膜的电荷有序行为第42-44页
   ·小结第44-45页
总结与展望第45-47页
参考文献第47-52页
攻读硕士学位期间的研究成果第52-54页
致谢第54-55页

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