| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| §1．1 引言 | 第7页 |
| §1．2 非球面检测技术发展概述 | 第7-11页 |
| §1．3 非球面特性及用途 | 第11-14页 |
| §1．4 本课题主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 激光波长扫描干涉测试原理及系统 | 第15-20页 |
| §2．1 激光波长扫描干涉测试原理 | 第15-16页 |
| §2．2 激光波长扫描干涉仪的组成 | 第16-17页 |
| §2．3 实验用光学系统 | 第17-20页 |
| 第三章 可调波长半导体激光器光源 | 第20-32页 |
| §3．1 可调谐激光器的分类 | 第20-24页 |
| §3．1．1 染料激光器 | 第20页 |
| §3．1．2 准分子激光器 | 第20-21页 |
| §3．1．3 高压气体分子激光器 | 第21页 |
| §3．1．4 过渡金属离子激光器 | 第21页 |
| §3．1．5 色心激光器 | 第21-22页 |
| §3．1．6 半导体激光器 | 第22-24页 |
| §3．2 波长可调谐的半导体激光光源特性 | 第24-32页 |
| §3．2．1 使用的半导体激光器 | 第24-29页 |
| §3．2．2 半导体激光器的输入电流与波长的关系 | 第29-30页 |
| §3．2．3 半导体激光器的输入电流与光强度的关系 | 第30页 |
| §3．2．4 半导体激光器的驱动装置 | 第30-32页 |
| 第四章 图像采集系统 | 第32-39页 |
| §4．1 图像采集卡 | 第32-35页 |
| §4．2 CCD摄像机 | 第35-39页 |
| §4．2．1 CCD基本工作原理简介 | 第35-37页 |
| §4．2．2 CCD摄像过程及干涉图提取 | 第37-39页 |
| 第五章 激光波长扫描干涉图处理 | 第39-59页 |
| §5．1 干涉图的读入及抽取 | 第39-40页 |
| §5．2 相位分布计算公式推导 | 第40-43页 |
| §5．3 相位干涉图的处理 | 第43-58页 |
| §5．4 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |