| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 前言 | 第8-9页 |
| 第一章 集成电路简介 | 第9-11页 |
| 第二章 混合信号集成电路测试 | 第11-19页 |
| ·数字电路基本测试项介绍 | 第12页 |
| ·参数测试 | 第12页 |
| ·功能测试 | 第12页 |
| ·混合信号测试简介 | 第12-19页 |
| ·DAC测试简介 | 第13-16页 |
| ·DAC静态参数测试 | 第13-15页 |
| ·DAC动态参数测试 | 第15-16页 |
| ·ADC测试简介 | 第16-19页 |
| ·ADC静态参数测试 | 第16-18页 |
| ·ADC动态参数测试 | 第18-19页 |
| 第三章 新产品测试开发流程 | 第19-22页 |
| 第四章 混合信号器件AK-D的测试方案 | 第22-30页 |
| ·AK-D产品简介 | 第22-23页 |
| ·AK-D产品测试计划 | 第23页 |
| ·自动测试设备的评估 | 第23-29页 |
| ·自动测试设备的选择 | 第23-24页 |
| ·J750简介 | 第24-28页 |
| ·J750的硬件结构 | 第24-27页 |
| ·J750的软件体系 | 第27-28页 |
| ·确定J750资源配置 | 第28-29页 |
| ·Probe Card的设计 | 第29页 |
| ·测试程序的开发 | 第29-30页 |
| 第五章 AK—D测试程序的编写 | 第30-52页 |
| ·Continuity Test | 第30页 |
| ·Hi-Z Test-Verify IIH,IIL | 第30页 |
| ·Test531_IDDStatic-Static IDD Test | 第30-31页 |
| ·Functional Test | 第31页 |
| ·DFT测试 | 第31-33页 |
| ·Bist测试原理 | 第31-32页 |
| ·Scan测试原理 | 第32-33页 |
| ·DFT测试实现 | 第33页 |
| ·Real Time Clock Oscillator Test | 第33-34页 |
| ·Panel DAC Tests | 第34-35页 |
| ·Audio Filter Test | 第35-37页 |
| ·LED PWM测试方法的研究 | 第37-42页 |
| ·Comparator Threshold Test | 第38-40页 |
| ·Comparator Current Source Test | 第40-42页 |
| ·Touch Screen Test | 第42-52页 |
| ·Y+/X+MOSFET Switch Test和Y-/X-MOSFET Switch Test | 第43-45页 |
| ·ADC INL/DNL Test模数转换器(ADC)测试 | 第45-48页 |
| ·Mux Input Test | 第48-50页 |
| ·Detect Mode Test | 第50-52页 |
| 第六章 测试程序开发后期工作 | 第52-56页 |
| ·通过工程测试结果选择最优化的生成工艺 | 第52-53页 |
| ·测试程序的优化 | 第53-55页 |
| ·通过对后期量产测试数据的研究达到测试程序的优化 | 第53-55页 |
| ·采用并行测试节省测试成本 | 第55-56页 |
| 第七章 全文总结 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
