适宜于高精度流水线ADC的校正算法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-14页 |
| ·课题研究意义 | 第9-10页 |
| ·Pipeline ADC 校正技术的研究和发展 | 第10-13页 |
| ·增益误差校正技术的研究与发展 | 第11页 |
| ·电容失配校正技术的研究与发展 | 第11-13页 |
| ·Pipeline ADC 校正技术的发展趋势 | 第13页 |
| ·论文结构 | 第13-14页 |
| 第二章 流水线ADC 基本原理 | 第14-27页 |
| ·流水线ADC 工作原理 | 第14-15页 |
| ·ADC 的性能参数 | 第15-19页 |
| ·动态参数 | 第15-17页 |
| ·静态参数 | 第17-19页 |
| ·非理想因素及其影响 | 第19-23页 |
| ·运放有限的开环增益 | 第19-20页 |
| ·电容失配 | 第20-21页 |
| ·比较器失调 | 第21页 |
| ·热噪声 | 第21-22页 |
| ·时钟抖动 | 第22-23页 |
| ·电荷注入和时钟馈通 | 第23页 |
| ·冗余位校正原理 | 第23-27页 |
| 第三章 增益误差校正算法 | 第27-38页 |
| ·增益误差校正算法的基本思想 | 第27-28页 |
| ·级间增益的测量 | 第28-31页 |
| ·改进的Multi-bit 冗余位结构 | 第29-30页 |
| ·增益误差校正算法的推导 | 第30-31页 |
| ·增益误差数字校正系统 | 第31-34页 |
| ·模拟结果与分析讨论 | 第34-38页 |
| 第四章 电容失配校正算法 | 第38-48页 |
| ·电容失配校正算法的基本思想 | 第38-39页 |
| ·电容失配校正参数的测量 | 第39-43页 |
| ·电容失配校正算法的推导 | 第39-40页 |
| ·改变的1.5-bit 冗余位结构 | 第40-43页 |
| ·电容失配数字校正系统 | 第43-44页 |
| ·模拟结果与分析讨论 | 第44-48页 |
| 第五章 数字后台校正电路的设计 | 第48-58页 |
| ·增益误差校正电路 | 第48-55页 |
| ·伪随机序列发生器(PRNG) | 第49-50页 |
| ·寄存器(register) | 第50-51页 |
| ·加法器(adder) | 第51-52页 |
| ·乘法器(multiplier) | 第52-53页 |
| ·数据选择器(digital selector) | 第53-54页 |
| ·仿真验证 | 第54-55页 |
| ·电容失配校正电路 | 第55-58页 |
| ·仿真验证 | 第56-58页 |
| 第六章 结论与展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第64-65页 |
