一类可修复系统的可靠性研究
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-16页 |
第1章 绪论 | 第16-22页 |
l.l 问题提出的背景及研究现状 | 第16-20页 |
l.l.l 国内外存该方向的研究现状及分析 | 第17-19页 |
l.l.2 可靠性存当前各领域的研究现状与前景 | 第19-20页 |
l.2 论文的土要内容和结构 | 第20-21页 |
l.2.l 主要研究内容 | 第20页 |
l.2.2 论文的结构 | 第20-21页 |
l.3 本章小结 | 第21-22页 |
第2章 可靠性理论 | 第22-32页 |
·可靠性理论的背景和研究方法 | 第22-23页 |
·评定产品可靠性的数量指标 | 第23-27页 |
·可靠性理论的主要模型 | 第27-30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
第3章 相关概念 | 第32-54页 |
3.l 马尔可夫型可修复系统 | 第32-34页 |
·非马尔可夫型可修复系统 | 第34-38页 |
·l 更新过程 | 第34-36页 |
·马尔可夫更新过程 | 第36-38页 |
·指数分布 | 第38-41页 |
·补充变量法 | 第41-44页 |
·半群理论综述 | 第44-53页 |
·l Co半群和抽象何西问题 | 第44-47页 |
·耗散算子AcP解的适定性 | 第47-51页 |
·Co半群的拟紧性 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第4章 可修复计算机系统可靠性分析 | 第54-80页 |
4.l 引言 | 第54页 |
·数学模型 | 第54-57页 |
·系统解的存在唯一性 | 第57-62页 |
·系统解的性质分析 | 第62-66页 |
·l 解的单调性 | 第63-65页 |
·可靠性指标 | 第65-66页 |
·一般模型数值分析 | 第66-75页 |
·l 一般模型系统稳态可靠性指标 | 第72-75页 |
·数值分析 6l | 第75页 |
·本章小结 | 第75-80页 |
第5章 两部件冗余电子设备系统可靠性分析 | 第80-94页 |
5.l 引言 | 第80页 |
·数学模型 | 第80-82页 |
·系统解的存在唯一性 | 第82-88页 |
·解的指数稳定性分析 | 第88-93页 |
·本章小结 | 第93-94页 |
第6章 随机选择修理工的可修复系统可靠性分析 | 第94-112页 |
6.l 引言 | 第94页 |
·数学模型 | 第94-96页 |
·系统解的存在唯一性 8l | 第96-102页 |
·解的指数稳定性分析 | 第102-107页 |
·数值模拟 | 第107-109页 |
·可靠性指标 | 第107-108页 |
·数值实例 | 第108-109页 |
·本章小结 | 第109-112页 |
第7章 串一并联可修复系统可靠性分析 | 第112-124页 |
7.l 引言 | 第112页 |
·模型介绍 | 第112-118页 |
·串联系统可靠性模型 | 第112-114页 |
·并联系统可靠性模型 | 第114-118页 |
·串一并联系统可靠性指标 | 第118-121页 |
·本章小结 | 第121-124页 |
结论 | 第124-126页 |
参考文献 | 第126-132页 |
攻读博士学位期间所发表的学术论文 | 第132-134页 |
致谢 | 第134页 |