| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-24页 |
| ·航天器介质深层带电效应及其危害 | 第11-14页 |
| ·介质深层带电效应研究现状 | 第14-22页 |
| ·介质深层带电研究现状 | 第14-16页 |
| ·介质深层带电数值模拟现状 | 第16-19页 |
| ·介质深层带电研究发展方向 | 第19-22页 |
| ·本论文研究的主要内容和目的 | 第22-24页 |
| 第二章 GEANT4粒子输运模拟 | 第24-34页 |
| ·GEANT4工具包 | 第24页 |
| ·GEANT4编程方法 | 第24-26页 |
| ·电子入射的GEANT4模型 | 第26-29页 |
| ·电子与物质作用的物理过程 | 第26-27页 |
| ·电子与物质作用在GEANT4中的实现 | 第27-29页 |
| ·基于MULASSIS的多层材料屏蔽模拟 | 第29-33页 |
| ·MULASSIS简介 | 第29页 |
| ·MULASSIS多层材料模拟编程 | 第29-31页 |
| ·MULASSIS模拟结果输出及其格式 | 第31-33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第三章 介质深层带电的GEANT4-RIC模拟方法 | 第34-57页 |
| ·介质深层带电机理 | 第34页 |
| ·基于GEANT4的介质深层带电模拟方法 | 第34-35页 |
| ·介质深层带电GEANT4输运模拟 | 第35-39页 |
| ·介质深层带电模型 | 第35-36页 |
| ·辐照过程电子输运GEANT4建模 | 第36-37页 |
| ·粒子源的GEANT4建模 | 第37-39页 |
| ·介质深层带电RIC模型 | 第39-44页 |
| ·RIC模型 | 第39-40页 |
| ·初始-边值条件 | 第40-41页 |
| ·平板介质RIC模型数值求解方法 | 第41-42页 |
| ·平板介质DRIC过程求解方法 | 第42页 |
| ·三种边界条件下的算例 | 第42-44页 |
| ·平板介质GEANT4-RIC模拟方法验证 | 第44-55页 |
| ·沉积电荷密度 | 第45-47页 |
| ·内部电场 | 第47-49页 |
| ·电荷质心 | 第49-51页 |
| ·表面电压 | 第51-55页 |
| ·小结 | 第55-57页 |
| 第四章 材料参数对介质深层带电影响研究 | 第57-67页 |
| ·影响介质材料深层带电因素分析 | 第57-58页 |
| ·密度对介质深层带电的影响 | 第58-63页 |
| ·厚度对卫星介质深层带电的影响 | 第63-65页 |
| ·电导率对介质深层带电的影响 | 第65页 |
| ·小结 | 第65-67页 |
| 第五章 复杂结构介质深层带电数值模拟应用研究 | 第67-78页 |
| ·盘环结构 | 第67-77页 |
| ·盘环模型 | 第67-70页 |
| ·辐照过程GEANT4模拟 | 第70-73页 |
| ·二维RIC模拟分析 | 第73-76页 |
| ·盘环辐照模拟结果讨论 | 第76-77页 |
| ·小结 | 第77-78页 |
| 第六章 数值模拟在介质深层带电监测器研制中的应用研究 | 第78-85页 |
| ·卫星内放电监测器研制 | 第78-81页 |
| ·卫星内放电监测方案 | 第78-80页 |
| ·卫星内放电监测器研制 | 第80-81页 |
| ·介质深层带电监测器的GEANT4-RIC模拟 | 第81页 |
| ·内放电监测器地面试验研究 | 第81-84页 |
| ·内放电试验系统 | 第81-82页 |
| ·试验结果 | 第82-83页 |
| ·结果分析 | 第83-84页 |
| ·小结 | 第84-85页 |
| 第七章 行星际空间质子引起介质深层带电模拟研究 | 第85-91页 |
| ·质子引起的介质深层带电问题 | 第85-86页 |
| ·质子介质深层带电的GEANT4-RIC模型 | 第86-88页 |
| ·质子充电RIC模型 | 第86-87页 |
| ·MULASSIS模拟 | 第87-88页 |
| ·模拟验证 | 第88-90页 |
| ·小结 | 第90-91页 |
| 第八章 结论 | 第91-93页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-99页 |
| 致谢 | 第99页 |