高分辨X射线光谱仪原理与设计
| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第15-27页 |
| 1.1 X射线概论 | 第15-16页 |
| 1.2 X射线的产生 | 第16-18页 |
| 1.3 X射线光学诊断系统和X射线光谱仪 | 第18-19页 |
| 1.4 软X射线光栅光谱仪 | 第19-23页 |
| 1.5 本论文主要研究内容 | 第23-27页 |
| 第2章 X射线光栅光谱仪的光学理论 | 第27-41页 |
| 2.1 光栅的基本理论 | 第27-29页 |
| 2.2 光栅的光程函数理论与基础像差的消除。 | 第29-33页 |
| 2.3 X射线反射与聚焦原理 | 第33-39页 |
| 2.3.1 反射定律与掠入射 | 第34-36页 |
| 2.3.2 掠入射像散的修正方法 | 第36-39页 |
| 2.4 倾斜误差对光学系统的影响 | 第39-41页 |
| 第3章 像散消除型光栅光谱仪的设计 | 第41-61页 |
| 3.1 在“水窗”波段实现最佳的平场光谱 | 第42-44页 |
| 3.2 在不同光栅子午物距条件下的讨论 | 第44-46页 |
| 3.3 弧矢聚焦曲线的优化 | 第46-49页 |
| 3.4 系统设计 | 第49-57页 |
| 3.5 当光源条件恶化或优化 | 第57-59页 |
| 3.6 本章小结 | 第59-61页 |
| 第4章 分辨能力增强型光栅光谱仪设计 | 第61-85页 |
| 4.1 数值模拟部分 | 第61-69页 |
| 4.1.1 四种类型的光谱仪分辨能力的比较 | 第62-66页 |
| 4.1.2 分辨能力增强型平场光谱仪设计流程 | 第66-69页 |
| 4.2 系统优化 | 第69-76页 |
| 4.2.1 点列图和成像分布质量 | 第69-71页 |
| 4.2.2 通过机器学习结构进行系统优化 | 第71-76页 |
| 4.3 关于追迹,像差和面型误差的进一步讨论 | 第76-80页 |
| 4.4 光源抖动对分辨性能的影响考察 | 第80-83页 |
| 4.4.1 光源位置纵向抖动 | 第81-82页 |
| 4.4.2 光源发射角在子午方向的抖动 | 第82-83页 |
| 4.5 本章小结 | 第83-85页 |
| 第5章 keV波段高分辨光栅光谱仪 | 第85-93页 |
| 5.1 像散消除和分辨增强的同时实现 | 第85-88页 |
| 5.2 光线追迹、像差分析和倾斜误差 | 第88-91页 |
| 5.3 本章小结 | 第91-93页 |
| 第6章 结论和展望 | 第93-97页 |
| 6.1 主要工作及创新点 | 第93-96页 |
| 6.2 不足与展望 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-103页 |
| 致谢 | 第103-105页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第105页 |
