| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景、目的与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文的主要工作与内容安排 | 第13-14页 |
| 1.3.1 论文的主要工作 | 第13-14页 |
| 1.3.2 论文的内容安排 | 第14页 |
| 1.4 本章总结 | 第14-15页 |
| 第2章 系统结构设计 | 第15-22页 |
| 2.1 系统整体结构 | 第15页 |
| 2.2 系统硬件平台搭建 | 第15-18页 |
| 2.2.1 DMK23GX174工业相机 | 第17页 |
| 2.2.2 VT-LEM2514CB-MP8 工业镜头 | 第17-18页 |
| 2.2.3 报警设备 | 第18页 |
| 2.3 软件部分的设计 | 第18-20页 |
| 2.3.1 采集拼接分板模块 | 第19-20页 |
| 2.3.2 PCB元器件检测模块 | 第20页 |
| 2.3.3 数据记录与展示模块 | 第20页 |
| 2.4 本章总结 | 第20-22页 |
| 第3章 采集拼接分板 | 第22-42页 |
| 3.1 引言 | 第22页 |
| 3.2 采集拼接分板整体设计 | 第22-24页 |
| 3.3 图像采集 | 第24-28页 |
| 3.3.1 图像结构相似度概述 | 第24-25页 |
| 3.3.2 算法实现 | 第25-27页 |
| 3.3.3 实验结果与分析 | 第27-28页 |
| 3.4 图像拼接 | 第28-35页 |
| 3.4.1 线性相似度寻找重叠区域 | 第29-31页 |
| 3.4.2 重叠区域内的(彩色)模板匹配拼接算法 | 第31-35页 |
| 3.5 分板 | 第35-38页 |
| 3.5.1 算法实现 | 第36-38页 |
| 3.5.2 实验结果与分析 | 第38页 |
| 3.6 模块测试与分析 | 第38-41页 |
| 3.6.1 测试对象 | 第38-39页 |
| 3.6.2 测试数据与分析 | 第39-41页 |
| 3.7 本章总结 | 第41-42页 |
| 第4章 PCB元器件检测 | 第42-76页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 坐标映射 | 第42-47页 |
| 4.2.1 结构相似度矫正 | 第43-44页 |
| 4.2.2 Mark点矫正 | 第44-46页 |
| 4.2.3 算法比较 | 第46-47页 |
| 4.3 元器件存在性检测 | 第47-55页 |
| 4.3.1 基于RGB图像分割法的元器件存在性检测 | 第47-49页 |
| 4.3.2 基于直方图相似度的元器件存在性检测 | 第49-51页 |
| 4.3.3 基于结构相似度的元器件存在性检测 | 第51-53页 |
| 4.3.4 基于模板匹配的元器件存在性检测 | 第53-54页 |
| 4.3.5 四种算法的比较 | 第54-55页 |
| 4.4 元器件极性检测 | 第55-67页 |
| 4.4.1 基于模板匹配定位的元器件极性检测 | 第55-59页 |
| 4.4.2 基于霍夫圆定位的电解电容极性检测 | 第59-65页 |
| 4.4.3 基于阈值分割定位的插座极性检测 | 第65-67页 |
| 4.5 模块测试与分析 | 第67-74页 |
| 4.5.1 测试对象 | 第67-68页 |
| 4.5.2 测试数据与分析 | 第68-74页 |
| 4.5.3 测试总结 | 第74页 |
| 4.6 本章总结 | 第74-76页 |
| 第5章 数据记录与展示模块 | 第76-88页 |
| 5.1 引言 | 第76页 |
| 5.2 数据记录 | 第76-77页 |
| 5.3 数据展示 | 第77-87页 |
| 5.3.1 Node服务器设计 | 第78-83页 |
| 5.3.2 数据库设计 | 第83-85页 |
| 5.3.3 测试与实现 | 第85-87页 |
| 5.4 本章总结 | 第87-88页 |
| 第6章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 6.1 总结 | 第88-89页 |
| 6.2 展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-96页 |
| 攻读硕士学位期间的主要学术活动和研究成果 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97页 |