| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 放大器的线性化技术以及研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 功率回退法 | 第12页 |
| 1.2.2 预失真技术 | 第12-13页 |
| 1.2.3 反馈法 | 第13-14页 |
| 1.2.4 前馈法 | 第14-15页 |
| 1.2.5 带外终端技术 | 第15页 |
| 1.2.6 其它线性化技术 | 第15-16页 |
| 1.3 放大器的高效率技术以及研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3.1 Doherty技术 | 第16-17页 |
| 1.3.2 包络跟踪技术 | 第17页 |
| 1.3.3 功率跟踪技术 | 第17-18页 |
| 1.4 高效低失真技术以及研究现状 | 第18-19页 |
| 1.5 论文结构与安排 | 第19-20页 |
| 第二章 放大器特性及非线性分析 | 第20-30页 |
| 2.1 放大器的工作模式 | 第20-24页 |
| 2.1.1 A类放大器 | 第21页 |
| 2.1.2 B类放大器 | 第21-22页 |
| 2.1.3 AB类放大器 | 第22页 |
| 2.1.4 C类放大器 | 第22-24页 |
| 2.2 放大器的重要指标 | 第24-25页 |
| 2.2.1 效率 | 第24页 |
| 2.2.2 增益压缩 | 第24页 |
| 2.2.3 三阶截断点IP3 | 第24-25页 |
| 2.3 放大器的非线性失真 | 第25-29页 |
| 2.3.1 谐波失真 | 第26页 |
| 2.3.2 AM-AM/AM-PM失真 | 第26页 |
| 2.3.3 互调失真 | 第26-28页 |
| 2.3.4 交调失真 | 第28页 |
| 2.3.5 ACPR失真 | 第28-29页 |
| 2.4 放大器的记忆效应 | 第29-30页 |
| 第三章 带外终端技术与动态偏置技术 | 第30-39页 |
| 3.1 IMD Sweet Spot | 第30-35页 |
| 3.1.1 IMD sweet spot现象 | 第30页 |
| 3.1.2 IMD sweet spot的背景 | 第30-32页 |
| 3.1.3 IMD sweet spot的小信号分析 | 第32-33页 |
| 3.1.4 IMD Sweet Spot的大信号分析 | 第33-34页 |
| 3.1.5 IMD sweet spot的存在条件 | 第34-35页 |
| 3.2 带外终端技术 | 第35-37页 |
| 3.2.1 基带频率短路 | 第35页 |
| 3.2.2 二次谐波终端短路 | 第35-37页 |
| 3.3 动态偏置 | 第37-39页 |
| 第四章 高效低失真放大器的设计与仿真 | 第39-58页 |
| 4.1 放大器的匹配 | 第39-40页 |
| 4.2 放大器的设计 | 第40-42页 |
| 4.3 基带频率短路枝节与二次谐波短路枝节的设计 | 第42-43页 |
| 4.4 IMD sweet spot仿真 | 第43-46页 |
| 4.5 高效低失真放大器的仿真 | 第46-55页 |
| 4.5.1 基带短路（OO） | 第46-49页 |
| 4.5.2 基带短路、二次谐波终端短路（OS） | 第49-51页 |
| 4.5.3 基带短路、二次谐波源端短路（SO） | 第51-53页 |
| 4.5.4 基带短路、二次谐波短路（SS） | 第53-55页 |
| 4.6 三阶互调与输入功率的关系 | 第55-56页 |
| 4.7 三阶互调与频率差的关系 | 第56-58页 |
| 第五章 高效低失真放大器的测试与分析 | 第58-67页 |
| 5.1 三阶互调测试方法 | 第58-59页 |
| 5.2 功率合成器的设计 | 第59-60页 |
| 5.3 放大电路的测试 | 第60-67页 |
| 5.3.1 S参数的测试 | 第60-62页 |
| 5.3.2 三阶互调的测试 | 第62-65页 |
| 5.3.3 测试结果分析 | 第65-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第72-73页 |
